๋ฐ์ฌ์ค
(Jae-Jun Park)
1โ
-
(Dept. of Electrical and Electronic Engineering, Kiee University, Korea)
Copyright ยฉ The Korean Institute of Electrical Engineers(KIEE)
Key words
HVDC IPT(Inclined plate tracking and erosion), Leakage current, Surface erosion, Thermal imaging camera, HVDC polarity
1. Introduction
์ ํต์ ์ผ๋ก ์ก์ ์ ๊ณผ ๋ฐฐ์ ์ ์ ์ฌ์ฉ๋์๋ ์ธ๋ผ๋ฏน ์ ์๋ ์ฒ์ฒํ ๊ณ ๋ถ์ ์ ์๋ก ๋์ฒด๋๊ณ ์์ต๋๋ค. ๊ณ ๋ถ์ ์ ์๋ ๋ฌด๊ฒ๊ฐ ๊ฐ๋ณ๊ธฐ ๋๋ฌธ์ ์ค์น ๋ฐ ์์ด์
๋น์ฉ์ ํฌ๊ฒ ์ค์ผ ์ ์์ต๋๋ค. ๋ํ ์์์ฑ(hydrophobic)์ด๊ธฐ ๋๋ฌธ์ ํนํ ์ด๊ธฐ ์๋น์ค ๊ธฐ๊ฐ ๋์ ์ ์ก ์์ค์ด ์ค์ด๋ญ๋๋ค. ๋ํ ๊ณ ๋ถ์์ด๊ธฐ
๋๋ฌธ์ ์ด๋ค ํํ์ ํฌ๊ธฐ๋ก๋ ์ฑํ ๋ ์ ์์ผ๋ฏ๋ก ์ค๊ณ ์ค์ ๋ ํฐ ์ ์ฐ์ฑ์ ์ ๊ณตํฉ๋๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ ๊ณ ๋ถ์ ์ ์๋ ํ๋ฉด ์์์ฑ(surface hydrophobicity)์ผ๋ก
์ผ์์ ์ธ ์์ค, ํธ๋ํน์ ์ํ ํํ๋ก์ ํ์ฑ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ์ฝ๋ก๋ ๋ฐ ์ํฌ์ฑ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ ์ํด ํ๋ฉด์ ์นจ์๊ณผ ๊ฐ์ ํน์ ํ ๋จ์ ์ ๊ฐ์ง๊ณ ์์ต๋๋ค. ์ง๋ 30๋
๋์ ์ฅ์ธ์ฉ ๊ณ ๋ถ์ ์ ์์ ์ฅ๊ธฐ ์ดํ๋ฅผ ์ดํดํ๊ธฐ ์ํ์ฌ ์ฌ๋ฌ ์ฐ๊ตฌ์ค ๋ฐ ์ฐ๊ตฌ๊ธฐ๊ด์์ ์ฐ๊ตฌ๊ฐ ์ํ ๋์์ต๋๋ค[1-5]. ์ต๊ทผ์๋ ์ ๋ ฅ์ ์์ ๋๋ถ์ ๋ฐ์ ์ผ๋ก ์ธํ์ฌ HVDC ์ ๋ ฅ์์ก์ ๊ดํ ์ฐ๊ตฌ๊ฐ ๋ฒ์ธ๊ณ์ ์ผ๋ก ๋ง์ ๊ด์ฌ์ ๊ฐ๊ฒ ๋์๋ค. HVDC ์ด๊ณ ์ ์ ์ก์ ์ฌ์ฉ๋๋
๋ผ์ธ ํฌ์คํธ์ ์ ๋ฐ Yard์ฉ station ์ ์ ๋ฑ์ ๋ ํฐ ๋ฌธ์ ์ ์ง๋ฉด ํด ์์ต๋๋ค. HVDCํ์์ ์ ์ ๊ณ๋ ์ผ์ ํ๊ณ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ๋จ๋ฐฉํฅ์
๋๋ค. ์ด๊ฒ์
๊ทผ์ฒ์ ๊ณต๊ธฐ์ค์ผ๋ฌผ์ง์ ์ ์ํ๋ฉด์ผ๋ก ์ง์์ ์ผ๋ก ๋์ด๋น๊ธฐ์ด ์ ์ฐ์ฒด ๊ณ ๋ถ์ ์ ์ํ๋ฉด์ ์ค์๋ฌผ์ง์ ์ถ์ ํ๊ฒ ํฉ๋๋ค. T.C. Cheng and C.T. Wu[6] ์ฐ๊ตฌ์์ ๋์ผํ ์ ๊ณ ์กฐ๊ฑดํ์์ ๊ต๋ฅ์ ๊ณ๋ณด๋ค HVDC์ ๊ฒฝ์ฐ 1.2~1.5๋ฐฐ ์ ๋ ๊ฐํนํฉ๋๋ค. ๋ํ HVDC ์ ๋ ฅ์์ก์ ์ฌ์ฉ๋๋ ๊ณ ๋ถ์์ ์๋ ๋์ฑ๋
๋์ ํ๋ฉด ์ ๋๋์ ๋์ค์ ๋ฅ์ ๊ฒฌ๋๋ ๊ฒ์ ํ์๋ก ํฉ๋๋ค. ๋ฐ๋ผ์, ๋์ค์ ๋ฅ๊ฐ ์ปค์ง๋ฉด ํ๋ฉด์จ๋์ ์์น์ผ๋ก ๊ณ ๋ถ์์ ์์ ํ๋ฉด์ ์นจ์์ด ๋์ฑ๋ ๊ฐํนํ๊ฒ
๋ฉ๋๋ค. ๊ณ ๋ถ์์ ์์์๋ ์ ์ฐ์์ฌ์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ๋ํ ๋ด์ฑ์ ๊ดํ ์ฐ๊ตฌ๊ฐ ๋งค์ฐ ์ค์ํฉ๋๋ค. 1961๋
Mathes and McGowan[7]์ ๊ณ ๋ถ์ ๋ฌผ์ง์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ๋ํด ๋ณด๊ณ ํ์ผ๋ฉฐ, ์ด ๊ณตํ๋ ASTM D2303, ์ก์ฒด ์ค์ผ ๋ฌผ์ง ์ํ ๋ฒ, ๊ฒฝ์ฌ ํ๋ฉด ์ถ์ ๋ฐ ์ ์ฐ์ฌ ์นจ์ ์ํ์
๊ธฐ์ด๋ฅผ ํ์ฑํ์ต๋๋ค. ์ด ํ
์คํธ๋ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ๋ํ ์ ํญ์ฑ๊ณผ ๊ด๋ จํ์ฌ ์ฌ๋ฃ์ ์์๋ฅผ ๋งค๊ธฐ๋๋ฐ ๊ด๋ฒ์ํ๊ฒ ์ฌ์ฉ๋์์ผ๋ฉฐ ์ ์ฐ์ฒด ๋ฐ ๊ธฐํ ์ค์ธ ์ดํ๋ฆฌ์ผ์ด์
์
์ฌ์ฉํ๊ธฐ ์ ํฉํ ๊ณ ๋ถ์ ์ฌ๋ฃ๋ฅผ ์ ํํ๋๋ฐ ๋์์ด ๋์์ต๋๋ค. ํด๋น IEC 60587 ํ
์คํธ๋ 1977๋
์ ์ ๊ณต๋์๋ค[8].
HVDC์ ์ค์๋ฌธ์ ๊ฐ ์ปค์ง๋ฉด ๊ณ ๋ถ์์ ์์ ์ฐ๋ฉด๊ฑฐ๋ฆฌ๋ฅผ ์ฆ๊ฐํ์ฌ ๊ด๋ฆฌ๋ ์ ์์ง๋ง, ์ด๊ฒ๋ง์ผ๋ก ํด๊ฒฐ๋๋ ๋ฌธ์ ๋ ์๋๋๋ค. HVDC DBA(Dry Band
Arc)๊ฐ ๊ณ ๋ถ์ ๋ฌผ์ง์ โโ๋ฏธ์น๋ ์ํฅ์ AC DBA๋ณด๋ค ํจ์ฌ ๋ ์ฌ๊ฐํ๋ค๋ ๊ฒ์ด ์๋ ค์ ธ ์๋ค[9,10]. ์ ๊ทน์ฑ DC์ AC ITV์ ํ๊ท ๋น์จ์ 67%์๊ณ , ๋ถ๊ทน์ฑ HVDC ๋ฐ AC ITV ๊ฐ์ ํ๊ท ๋น์จ์ 84 %์์ต๋๋ค. ๋ฐ๋ผ์ ์ ๊ทน์ฑ HVDC
๋ฐ ๋ถ๊ทน์ฑ HVDC IPT ์ ์์ AC IPT ์ ์์ 67%์ 84%์ด์ด์ผ ํฉ๋๋ค. Bossi et al.[11]๋ ์๋ ๊ฐ๋ฅํ ์ง๋ฅ ์ ์์ด ํ๋์ ์ค๋ฒ ์ฑ๋ฅ์ ๊ธฐ์ค์ผ๋ก ์ ํ๋๋ ํ ๋ฌผ์ง์ ๊ฐ์ ์ด ํ์ํ์ง ์๋ค๊ณ ์ ์ํ๋ค. ๊ทธ๋ค์ HVDC ํ๋์ ์ค๋ฒ ์ ์์ด
ํด๋น AC ํ๋์ ์ค๋ฒ ์ ์์ 75~85%๋ผ๋ ๊ฒ์ ๋ฐ๊ฒฌํ์ต๋๋ค.
Joseph Vimal Vas[12] ์ฐ๊ตฌ์๋ค์ ์ค๋ฆฌ์ฝ ๊ณ ๋ฌด์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์ ์ฑ๋ฅ์ ์ ๊ทน์ฑ ์ง๋ฅ ์ ์์ ๋นํด ๋ถ๊ทน์ฑ ์ง๋ฅ์์ ๋ ๋์ ๊ฒ์ผ๋ก ๋ํ๋ฌ์ต๋๋ค.
๋ค๋ฅธ IPT ์ฐ๊ตฌ์์, ์ํ์ ์ฑ๋ฅ์ ์ ๊ทน์ฑ ๋ฐ ๋ถ๊ทน์ฑ HVDC ํ์์ ํ๊ฐ๋์๋ค[2]. ๋์ผํ ์ํ ์ ์์์, ์์ ์ง๋ฅ ์ ์์ด ์ํ ์ ์์ด ์ฆ๊ฐํจ์ ๋ฐ๋ผ ์ฆ๊ฐํ๋ ์ต๊ณ ์์ค์ ์นจ์์ ๋ํ๋๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋, ์ ๊ทน์ฑ HVDC๋ ๋ถ๊ทน์ฑ HVDC๋ณด๋ค
๋ ๋ง์ ๊ฐํ์ ์ธ ์ ๋ฅ๋ฐฉ์ ์ ๋ํ๋ด์๊ณ ๋ ๋์ ํ๊ท ๋์ค ์ ๋ฅ๋ฅผ ์ด์ง์์ผฐ๋ค. ๋ํ, ๊ณ ์จ ์ํฌ์ ์ํ ์ ๊ธฐ ๋ถํด ๋ฐ ํ๋ถ ์ ๊ทน์ ์ฐํ๋ก๋ถํฐ์ ์ ๊ทน์ฑ์
๋ถ์์ ๋ธ๋ฃจ์ค(Bruce) ๋ฑ[2]์ ์ํด ๊ด์ฐฐ๋์ด ๋ถ๊ทน์ฑ HVDC์ ๋น๊ตํ์ฌ ์ ๊ทน์ฑ HVDC ํ์ ๋ ํฐ ์นจ์ ๋ฐ ๋ ํฐ ์ง๋ ์์ค์ ์ด๋ํ๋ค. ์ด๋ IPT์์ ์ ๊ทน์ฑ ๋ฐ ๋ถ๊ทน์ฑ
ํ
์คํธ ์ ์์ด ๋์ผํ ์์ค์ ์์ ์ ์๋ค๋ ํ์์
๋๋ค.
๋ณธ ์ฐ๊ตฌ์์๋ ํ์์ด ์์ ๋กญ๊ณ , ๊ฐ๊ณต์ด ์ฉ์ดํ LSR(Liquid Silicone Rubber)๋ฅผ ์ด์ฉํ์ฌ, AC ๊ตญ์ ๊ท์ ์ธ IEC 60587์ ๊ทผ๊ฑฐํ์ฌ
(ยฑ)HVDC 3.5kV์ ์ธ๊ฐํ์ฌ ๋ ์ข
๋ฅ ์ค๋ฆฌ์ฝ ๋๋
ธ์ฝคํฌ์งํธ์ธ RBL-1551โ55P ์ํ๊ณผ RBL-1551โ55P+Nano Silica_15wt%์ฝคํฌ์งํธ์
IPT ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ๊ดํ ์ฐ๊ตฌ๋ฅผ ์ค์ํ์๋ค.
2. Experiment
2.1 Materials
๋ณธ ๋
ผ๋ฌธ์ ์ฌ์ฉํ ์ค๋ฆฌ์ฝ์์ง๋ XIAMETERยฎ RBL-1551โ55P๋ก์, ๊ณ ์ ์ ๊ทธ๋ ์ด๋ ์ก์์ค๋ฆฌ์ฝ ๊ณ ๋ฌด๋ฅผ ์ฌ์ฉํ์๋ค. 2์กํ ํ์
์ผ๋ก, Cure
conditions: 10minร120ยฐC+2hrร120ยฐC๋ก ๊ฒฝํํ์๋ค. ๋๋
ธ ์ค๋ฆฌ์นด๋ hexamethyldisilazane ([(CH3)3Si]2NH)๋ก ํ๋ฉด ์ฒ๋ฆฌ๋ ์์์ฑ Fumed Silica (AEROSILยฎ R 812S, EVONIK Industries AG), ๋๋
ธ์ค๋ฆฌ์นด ํ๊ท ์
๋๋
7nm์ธ ์ ํ์ ์ฌ์ฉํ์๋ค. ์ด๊ฒ์ BET ๋นํ๋ฉด์ ์ 220ยฑ25m2/g์ด์๋ค.
ํ 1. XIAMETERยฎ RBL- 1551 โ55P์ ๋ฌผ์ฑํ
Table 1. Properties of XIAMETERยฎ RBL-1551 -55P
Test Method*
|
Property
|
Unit
|
Value
|
|
As supplied
|
|
|
|
Appearance
|
|
Translucent or grey
|
|
Solids content
|
%
|
100
|
|
Viscosity (Y=10.0s-1
|
mPas
|
60,000
|
|
As cured
|
|
|
D792
|
Specific gravity
|
g/cm3
|
1.09
|
D2204
|
Hardness
|
Shore A
|
42
|
D412
|
Tensile strength
|
MPa
|
6.8
|
D412
|
Elongation at break
|
%
|
472
|
D624B
|
Tear strength
|
kN/m
|
31
|
IEC 60093
|
Volume resistivity
|
Ohm.cm
|
1.00E+15
|
IEC 60250
|
Dielectric constant
|
|
2.8
|
IEC 60250
|
Dissipation factor
|
|
0.01
|
IEC 60587
|
Tracking resistance
|
|
1A4.5
|
IEC 60243
|
Dielectric strength
|
kV/mm
|
30
|
2.2 SiR/Nano Silica Composites Preparation
ํธ๋ํน ์ํ์ ์ ์กฐํ๊ธฐ ์ํ์ฌ, ์ค๋ฆฌ์ฝ ์์ง(RBL-1551โ55P)100g๊ณผ ๋๋
ธ ์ค๋ฆฌ์นด 15wt%์ ์ค๋๋น๋ก์ ํ์ฐ๋๋ฅผ ์์ ๊ณต์ ์ ๋ฏน์๊ธฐ์ ๋ฃ๊ณ ,
์ง๊ณต๊ณผ ์จ๋ 120โ ํ๊ฒฝ์์ 2mm ๊ฐ๊ฒฉ์ ๊ณต์ ์์ ๊ต๋ฐ ์ ๋จ๋ ฅ์ ๊ฐ์ ์ง๊ณต์์คํ
ํ์์ 3์๊ฐ ๋์ ๋ถ์ฐ ํ 2์กํ ํ์
์ ํผํฉ์ ํตํ์ฌ ๊ฒฝํ์กฐ๊ฑด์ผ๋ก
์ฑํํ์๋ค. IPT(Inclined Plate Tracking and Erosion Test)์ ์ํ ์ํ๋ก์ 50ร1250ร6mm์ ์ํ์ ๊ตฌ์ฑํ์๋ค.
๋ณธ ๋
ผ๋ฌธ์์๋ ๋ ์ข
๋ฅ์ ์ํ(RBL-1551โ55P: ์ํ, RBL- 1551โ55P+Nano Silica_15wt%) ์ถฉ์ง๋ถ์ฐ์์ผ HVDC ์ด๊ณ ์์ฉ
์ ์๋ฅผ ๊ฐ๋ฐํ๊ธฐ ์ํ์ฌ ์ก์์ค๋ฆฌ์ฝ๊ธฐ๋ฐ ๋๋
ธ ์ฝคํฌ์งํธ๋ฅผ ์ ์กฐํ์๋ค.
2.3 HVDC์ฉ, Tracking and Erosion ์์คํ
๋ฐ ์คํ
ํ ์์ ์คํ
์ธ๋ฆฌ์ค ์ ๊ทน์ด ํธํํ ์ง์ฌ๊ฐํ ์ ์ฐ์ฒด ์ํ (KS C IEC 60587)์ด ํ๋ฉด์ ๋ถ์ฐฉ๋ฉ๋๋ค. HVDC ์ ๊ทน์ฑ์ ์คํ์ ์๋ถ ์ ๊ทน์ ์ผ๋ จ์
๋ณดํธ ์ ํญ(1,10,22,33๏ฝฮฉ) ์ค 22, 33kฮฉ์ ํตํด ์ง๋ฅ ๊ณ ์ ์ ์ ์์ ์ํด ์์ฑ๋ ์ ๊ทน์ฑ์ด ์ฐ๊ฒฐ๋๋ฉฐ, ํ๋ถ ์ ๊ทน์ ์ ์ง์ ์ฐ๊ฒฐ๋ฉ๋๋ค.
HVDC ๋ถ๊ทน์ฑ ์คํ์ ์๋ถ์ ๊ทน์ ๋ถ๊ทน์ฑ ์ ์๋ฅผ ๊ฐ๋ ๊ฒ์ผ๋ก ์ ์ํ๊ณ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ํ๋ถ์ ๊ทน์ ์ ์ง๋ก ์ฐ๊ฒฐ๋ฉ๋๋ค[8].
์ํ์ ์ธก์ ์ํํ๋ฉด์ด ์๋์ชฝ์ ์ํ์ ์ด๋ฃจ๋ ๊ฐ๋ 45 ยฐ๋ก ์ค์น๋ฉ๋๋ค. ์๋ถ ์ ๊ทน ์๋์ ๊ณ ์ ๋ ์ฌ๊ณผ์ง๋ฅผ ์ฌ์ฉํ์ฌ ์ค์ ๋ฌผ์ง (ํ์ด์จ์+NH4Cl+๋น๋์ ์ธ Triton X-100์ผ๋ก ๋ง๋ ์ค์์ก)์ ์ผ์ ํ ๊ฐ๊ฒฉ๋์ ๋ฏธ๋์ ์ค์ ์ก์ด ๊ทธ๋ฆผ. 1์์ ๋ณด์ฌ์ค ๋ฐ์ฒ๋ผ ์ ๊ทน์ฌ์ด ์ํ ์๋ซ๋ฐฉํฅ์ผ๋ก ๋จ์ด๋จ๋ฆฝ๋๋ค. ์ค์์ก์ด ํํฐ์ฉ์ง๋ฅผ ํตํ์ฌ ์๋ถ์ ๊ทน์ ๊ตฌ๋ฉ์ผ๋ก๋ถํฐ ๋์ค๊ณ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ํ๋ถ์ ๊ทน์ ๋ํ์ ํจ๊ณผ
์์ด ์ค์์ก์ด ํ๋ฅด๋๋ก ์ผ๋ จ์ ๊ฐญ์ ๊ฐ๊ฒ ๋์๋ค. ์ง์ ๋ ์ ๊ทน๋ค์ ์ ์ฐ๊ฑฐ๋ฆฌ๋ฅผ 50mm๋ก ๋ถ๋ฆฌํ๊ณ ์ฐ์์ ์ธ ๋ถ๊ฝ ๋๋ ์ฌ๊ด(scintillation)
์ฆ, ๊ฑด์กฐ๋์ํฌ(Dry Band Arc) ๋ฐ์ํ๋๋ก HVDC ยฑ3.5kV๋ฅผ ์ธ๊ฐํฉ๋๋ค[4][16]. ์ ์์ธ๊ฐ ์ ์ ์ฐ์์ ์ธ ์ค์์ก์ด ํ๋ฅด๋ ๊ธธ์ด ์ฃผ์ด์ง ์ ์์ ํญ์ ์ ์ง๋์ด์ผ ํ๊ณ ๊ทธ๋์ ์ ์์ฑ(wetting)๊ณผ ๋ฐฉ์ (scintillation)์
์ฐ์์ ์ธ ์ฌ์ดํด์ ์ต์ ํ๊ธฐ ์ํ ์์์ฑ(hydrophobic) ํ๋ฉด์ ๋ฅ๋ ฅ์ ์ต์ํํ์ฌ์ผ ํฉ๋๋ค. ์ ํญ R1์ ์ ๋ฅ๋ฅผ ์ ํํ๊ธฐ ์ํ ์ ํญ์ด๋ฉฐ, R2๋ ๋์ค์ ๋ฅ์ ๊ณ์ธก์ ์ํ ์ ํญ์ด๋ค. IEC 60587์ ๋ฐ๋ผ ์ค์์ก์ ์ ๋๋๋ 2.5mS/cm๋ก ํ์์ต๋๋ค. ์ค์์ก์ด ๋ฐฐ์ถ๋๋ ์๋ถ์ ๊ทน์ ์ ์(์ ๊ทน์ฑ
๋ฐ ๋ถ๊ทน์ฑ)์ด ์ธ๊ฐ๋๊ณ HVDC 3.5kV์์๋ 0.3ml/min์ ๋์ด ์ผ์ ํ๊ฒ ํ๋ฅด๊ฒ ๋ฉ๋๋ค. ์ ๊ทน์ฑ ๋ฐ ๋ถ๊ทน์ฑ์ HVDC์ ์์ 3.5kV๋ฅผ ์ธ๊ฐํ์๋ค.
ํ์ฌ๊น์ง HVDC์ ๊ฒฝ์ฐ Tracking and Erosion์ ์คํ์ ๊ดํ ๊ตญ์ ํ์ฅฐ ์กฐ๊ฑด์ด ๋ง๋ค์ด์ง์ง ์์๊ธฐ ๋๋ฌธ์, AC ๊ตญ์ ๊ท์ ์ธ IEC 60587๊ท์ ์
AC๋์ DC ์ ์ ๋ฐ ๊ทน์ฑ๋ง์ ๋ณ๊ฒฝํ์๊ณ ๊ทธ ์ธ ๋ชจ๋ ์กฐ๊ฑด์ ๋ฐ๋ฅด๊ธฐ๋ก ํ์๋ค. ๋ํ fail ์กฐ๊ฑด์ ๋์ค์ ๋ฅ 60mA/2s ์ด์์ผ ๊ฒฝ์ฐ pass์
๊ท์ ์ผ๋ก ์ ํ์ฌ ์คํ์ ์ค์ํ์๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 1. HVDC์ฉ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์์คํ
Fig. 1. Tracking and erosion system for HVDC
ํ 2. IEC 60587 ๊ตญ์ ๊ท์ (ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์)
Table 2. IEC 60587 International Regulations (Tracking and Erosion)
์ํ์ ์ (kV)
|
์ ํธํ๋ ์ํ์ ์ [kV]
|
์ค์์ก ์ ์ (ml/min)
|
์ง๋ ฌ์ ํญ๊ธฐ์ ์ ํญ[๏ฝ$/Omega$]
|
3.0~3.75
|
3.5
|
0.3
|
22
|
2.4 Measuring System
2.4.1 Leakage Current
๋์ค์ ๋ฅ ์ธก์ ์ ๋์ค์ ๋ฅ ์ธก์ ์ฅ์น์ธ Datatec์ฌ, SEFRAM/ DAS60์ผ๋ก 6์ฑ๋, ์ ๋ ฅ๋ถ์ํจ์ 400Hz ์ด์, 14๋นํธ resolution,
1Ms/s sampling rate, 100kHz bandwidth ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ DC, AC+DC RMS voltage measurement์ ํ ์ ์๋
๋ ์ฝ๋๋ฅผ ์ฌ์ฉ ํ์๋ค. ์ธก์ ๋ ๊ฒฐ๊ณผ์ ์๋ฃ๋ฅผ ๋ณผ ์ ์๋๋ก ์ ๊ณต๋ Seframviewer๋ฅผ ์ด์ฉํ์ฌ, ์ํ๋ ๋ฐ์ดํฐ๋ฅผ ์ป์ ์ ์์ต๋๋ค. ์ธก์ ์๋ฃ์
๊ฒฐ๊ณผ ๊ฐ์ ๋์ค์ ๋ฅ ์ต๋๊ฐ์ ์ป๊ธฐ ์ํ์ฌ ๋ฐ์ดํฐ ํ๋ ์ํ๋ง ์จ์ 100ฮผS๋ก ๋ฐ์ดํฐ๋ฅผ ๊ณ์ธกํ์๋ค. 1์ด์ 10,000ํฌ์ธํธ์ ์๋ฃ๊ฐ ๊ณ์ธก๋๋ค. 1๋ถ์ด๋ฉด
60๋ง ํฌ์ธํธ๊ฐ ๋๋ค. ์ฃผํ์๋ก ํํํ๋ฉด 10kHz์ด๋ค. 6์๊ฐ ๋์์ ๋์ค์ ๋ฅ ์๋ฃ๋ฅผ ๋ถ์ํ๊ธฐ ์ํ์ฌ 1๋ถ์ ํ๋์ ์๋ฃ๋ฅผ ์ป์ ์ ์๋๋ก 60๋ง
ํฌ์ธํธ์ ์ ํธ ์ค ๊ฐ์ฅ ํฐ ๋์ค์ ๋ฅ ์ต๋๊ฐ์ผ๋ก ํ์๊ณ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ 1๋ถ ๋์์ ํ์ค์งํญ์ ํฉ์ ์ธก์ ํ์ค์๋ก ๋๋์ด ํ๊ท ๊ฐ์ผ๋ก ํ์ฌ ์๋ฃ๋ฅผ ์ ๋ฆฌํ์ฌ ๊ทธ๋ํ๋ก
๋ํ๋ด์๋ค. ๋์ค์ ๋ฅ ์ธก์ ์์คํ
์ ๊ทธ๋ฆผ. 2์์ ๋ํ๋ด์๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 2. SEFRAM/DAS60 ๋์ค์ ๋ฅ ์ธก์ ์์คํ
Fig. 2. SEFRAM/DAS60 Leakage Current Measurement System
2.4.2 Thermo Imager(์ดํ์ ์นด๋ฉ๋ผ)
ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ ์จ๋๋ฅผ ์ธก์ ํ๊ธฐ ์ํ์ฌ, ์ดํ์ ์นด๋ฉ๋ผ(Thermo Imager)๋ฅผ ์ฌ์ฉํ์๋ค. ์ฌ์ฉ๋ ๋ชจ๋ธ์ TI-45FT-20์ด๊ณ , ์ ์์ฌ๋ FLUKE
์ด๋ค. ์ฌ์ฉ์จ๋๋ฒ์๋ โ20~600โ์ด๋ฉฐ, ์จ๋ ๋ถํด๋ฅ์ 0.1โ์ด๋ค. ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ์จ๋ ์ ํ๋๋ ยฑ2โ์ด๋ฉฐ, ์ดํ์ ์นด๋ฉ๋ผ์ ํ์ 1280*1024
ํ์๋ฅผ ๊ฐ๋ ์์คํ
์ด๋ค. ์ดํ์ ์นด๋ฉ๋ผ๋ 1๋ถ์ 1ํ ์ธก์ ์จ๋์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ์ด์ฉํ์๋ค. ์ดํ์ ์นด๋ฉ๋ผ๋ Smart View 3.14 ๋ฒ์ ์ํํธ์จ์ด๋ฅผ
ํตํ์ฌ ์จ๋๋ฅผ ์ฒดํฌํ๊ฒ ๋ฉ๋๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 3. ์ดํ์ ์นด๋ฉ๋ผ์ ์ธก์ ์์คํ
Fig. 3. Measurement system of thermal imaging cameras
2.4.3 Camcorder ๋ฐ ์ ์์ฒ์นญ
์์์ดฌ์์ Sony HDR-CX240E HD Flash Camcorder๋ฅผ ์ด์ฉํ์ฌ ์ดฌ์ํ์๊ณ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ์นจ์๋ ์ธก์ ์ ์ํด OHAUS์ฌ, Adventurer๋ฅผ
์ด์ฉํ์ฌ ์์ซ์ 4์๋ฆฌ๊น์ง ์ธก์ ํ ์ ์๋ ์ ์์ฒ์นญ์ ์ด์ฉํ์๋ค.
3. Result and Discuss
3.1 ํธ๋ํน๊ณผ ์นจ์์ ์ํ ๋์ค์ ๋ฅ, ํ๋ฉด์จ๋, ํ๋ฉด์นจ์ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์์
3.1.1 RBL_55P Original Composites / HVDC_3.5kV / Positive and Negative
3.1.1.1 Positive Polarity
๊ทธ๋ฆผ. 4~๊ทธ๋ฆผ. 6์์๋ Dow Corning ์ฌ(RBL-1551- 55P) ๋น์ค(1.09)์ ๊ฐ๋ ์ค๋ฆฌ์ฝ์์ง๋ก์, (+)HVDC_3.5kV์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์ ์คํ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ
๋์ค์ ๋ฅ, ํ๋ฉด์นจ์ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์์์ ๋ํ๋ด์๋ค. ์ต์คํ ์ํ์ ์ ์์ฑ์ ์ํด ๋ฐ์๋ ๋์ค์ ๋ฅ๊ฐ 1.73~2.96mA์ ๋ํ๋ด์๋ค[17]. 28๋ถ์ ์ด๋ฅด๋ฌ ์ค์์ก์ด ํ๋ถ์ ๊ทน์ผ๋ก ๋จ์ด์ง๋ ์งํ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ด ๊ฐ์๋์๋ค. ๊ทธ๋ 21.02mA์ ๋์ค์ ๋ฅ์ ๋ฐ์์ ๊ฐ์ ธ์๋ค. ์ดํ ์๋น๊ธฐ๊ฐ ์ฐ์์ ์ธ์ด๋ฉด์
๊ฐํ์ ์ธ ํธ๋ํน์ ์ํ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ด ๋ฐ์ํ์๋ค. ํธ๋ํน๊ณผ ์นจ์์ด ์ง์๋ ์๋ก ๋์ค์ ๋ฅ์ ํฌ๊ธฐ๋ ์ฆ๊ฐํ์๊ณ , ๋์ค์ ๋ฅ ์ ๋ฅ๊ฐ ์ฆ๊ฐํ ์๋ก ์ฃผ์ธ์ด์ ์ํ ํ๋ฉด์
์จ๋๋ ์์นํ์๊ณ [4], ์์น๋ ์จ๋๋ ์ดํ์๊ณ์ธก์ ํ๊ณ์ ์ํ์ฌ 370โ ์ ๋๊น์ง ์ธก์ ๋์์ง๋ง 500~700โ๊น์ง ๋ฐ์๋ ๊ฒฝ์ฐ๋ก ๋ณผ ์๊ฐ ์๋ค[4]. ์ด ๊ฒฐ๊ณผ ํ๋ฉด์ดํ๋ก ์ธํ ํ๋ฉด์ํ๊ฐ์์์ฑ์์ ์์ ํ ์น์์ฑ์ผ๋ก ๋ณํ๋์ด ์ค์์ก์ด ํ๋ฅด๋ ๋ฏธ๋ฏธํ ํ๊ณก(์ค์์ก์ด ํ๋ฅด๋ ๊ธธ)์ด ๋ฐ์๋์ด์ง๊ณ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ
์นจ์์ด ์งํ๋๊ธฐ ์์ํ๊ฒ ๋๋ค. ์ด์๊ฐ์ ๋ฐฉ์ ์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๊ทธ๋ฆผ. 6(b)์์ ๋ํ๋ด์๋ค. ๋ฐฉ์ ์ ํ๋ถ์ ๊ทน์์ ๊ฐ๋ ฅํ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ด ์งํ๋๊ณ ๋๋ธ์ด ์๋ถ์ ๊ทน์ผ๋ก ํฅํ๋ ์ด๋๋ฐฉ์ (mobile discharge)์ด ์งํ๋์ด์ก๋ค[17]. ๊ทธ๋ฆผ. 5์ ์์์ ๋์์ ๊ฐ์ ์ข
๋ฅ ์ํ 3๊ฐ์ ์ ์์ ์ธ๊ฐํ์ฌ ์ธก์ ํ ์คํ๊ฒฐ๊ณผ๋ก ๊ทธ๋ฆผ. 5(b) ํ๋ฉด์นจ์๊ฒฐ๊ณผ๊ฐ ๊ทธ๋ฆผ. 4์ ๋์ค์ ๋ฅ ์ธก์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๋ํ๋ธ ๊ฒ์ด๋ค. ์ต์ข
์ ์ธ ์คํ๊ฒฐ๊ณผ๋ ์ํ 3๊ฐ ๋ชจ๋ 60mA/2s๊ฐ ๋ฐ์๋์ง ์์ Passํ ์ํ์ด๋ค. ์ฒ์๋ฐฉ์ ์ดํ ๊ฐํ์ ์ธ
๋ฐฉ์ ์ด ์ง์๋์๊ณ , 210๋ถ์ ๊ฐ๋ ฅํ ๊ฐํ์ ์ธ ๋ฐฉ์ ์ผ๋ก ์ฌํ๊ฒ ์นจ์๋์ด์ง ์ํ์ด๋ค. ์ดํ 300๋ถ๊ฒฝ๋ถํฐ ๋ฐฉ์ ์ด 55๋ถ ๋์ ์ง์๋์๊ณ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ 325๋ถ์ ๋์์
ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ ์ํ ์จ๋๊ฐ 370โ(๊ทธ์ด์์ ์จ๋๋ก ์ถ์ธก)์ํ๋ฅผ ์ง์ํ์ฌ ์คํ์ ์กด๋ฃ๋๋ ์์ ๊น์ง ์ง์๋์๋ค. 303๋ถ~358๋ถ ๋ฒ์์ ๋์ค์ ๋ฅ๋ 11.01~46.97mA์
์ ๋ฅ๋ฅผ ๊ธฐ๋กํ์๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 4. Tracking and Erosion์ Leakage Current (HVDC_3.5kV_Positive Polarity)
Fig. 4. Tracking and Erosion์ Leakage Current (HVDC_3.5kV_Positive Polarity)
๊ทธ๋ฆผ. 5. ํธ๋ํน ๋ฐ ํ๋ฉด์นจ์์ ์์
Fig. 5. Image of tracking and surface erosion
๊ทธ๋ฆผ. 6. ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ์ํ ํ๋ฉด๋ฐฉ์
Fig. 6. Surface discharge by tracking and erosion
3.1.1.2 Negative Polarity
๊ทธ๋ฆผ. 7~๊ทธ๋ฆผ. 9๊น์ง๋ (-)HVDC_3.5kV์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์ ์คํ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๋์ค์ ๋ฅ, ํ๋ฉด์นจ์ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์์์ ๋ํ๋ด์๋ค. (-)HVDC ์ธ๊ฐํ ๋ฐฉ์ ์ด ๋ฐ์๋์ง
์๊ณ , ์ต์คํ ์ํ๋ฅผ ์ ์งํ๋ 27๋ถ ๊ฒฝ์ฐ๊น์ง ๋์ค์ ๋ฅ๋ 1.85~2.93mA์ด์๋ค. ์ฒ์ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ด ์์๋๋ ๊ฒฝ์ฐ ๋ชจ๋ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์คํ์์ ์ค์์ก์ด
ํ๋ถ์ ๊ทน์ผ๋ก ๋จ์ด์ง๋ ์๊ฐ 27๋ถ๋ถํฐ ๊ฐ์๋์๊ณ ๋์ค์ ๋ฅ๋ โ23.45mA๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค. 20๋ถ ๋์ ์ง์ค์ ์ผ๋ก ํ๋ถ ์ ๊ทน์์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ด ์งํ๋์๊ณ
๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ ํํ๋๋ ์ ๋๊ฐ ๋ฐ์ํ๊ฒ ๋์๋ค. ์ด์๊ฐ์ ํ๋ฉด์ํ๋ ์ด๋ฏธ ์์์ฑ์ ์ฌ๋ผ์ง๊ณ ํ๋ฉด์ ํฐ ํ๊ณก๊ณผ ๊ฐ์ ์นจ์์ด ์ด๋ฃจ์ด์ ธ์ํ์ด๋ค[6]. ์ด๊ธฐ ํธ๋ํน์ ์ํ ์นจ์์ผ๋ก ํ๋ฉด์ ์จ๋์ญ์ ๊ฑด์กฐ๋ ๋ฐฉ์ ๋ฐ ์ฃผ์ธ์ด์ ์ํ ๊ฒฐ๊ณผ ํ๋ฉด์ ์ด์ ์ดํ๊ฐ ์งํ๋์ด ์ง ์ํ์ด๋ค. 29๋ถ~58๋ถ๊น์ง ๋์ค์ ๋ฅ์
ํฌ๊ธฐ๋ 11.9~38.54mA์ ๋ํ๋ด์๋ค. ์ดํ ๋ช ๋ฒ์ ๊ฐํ์ ์ธ ๋ฐฉ์ ํํ๋ ์์์ง๋ง ์งง๊ณ ๋์ค์ ๋ฅ๊ฐ ํฌ์ง ์๋ ์ํ์ด๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ 171๋ถ~360๋ถ(189๋ถ
๋์) ์คํ๊ท์น 6์๊ฐ ์คํ์ข
๋ฃ ์ ๊น์ง, ์ง์์ ์ธ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ธ ๊ฑด์กฐ๋ ๋ฐฉ์ ์ ์ํ ์ํฌ์ฑ ๋ฐฉ์ ์ด ์ง์๋์๋ค[4]. ๊ทธ๋ก ์ธํ ํ๋ฉด์ ์จ๋๋ ์ธก์ ์น ์ต๋๊ฐ์ธ 370โ ์จ๋๊ฐ ์ง์๋์๊ณ , ์ด์ ์ดํ๋ ๊ฐ์๋๊ฒ ๋์๋ค. ํ๋ฉด์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์๊ฒฐ๊ณผ๋ก ์ธํ ๋์ค์ ๋ฅ๋
โ11.97~54.6mA ๋ฒ์์ ๋์ค์ ๋ฅ๊ฐ ๊ธฐ๋ก๋์๋ค. ์ ๊ทน์ฑ์ ๋นํ์ฌ ๋ถ๊ทน์ฑ ํธ๋ํน์ดํ์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ ํ๋ฉด์นจ์์ธ ๊ทธ๋ฆผ. 8์์ ๋ณผ ์ ์๋ ๊ฒ์ฒ๋ผ, ์ ๊ทน์ฑ ๋ณด๋ค๋ ์นจ์๊น์ด์ ํธ๋ํน ๊ธธ์ด๊ฐ ์์์ ์ ์ ์์๋ค[6].ํธ๋ํน ๋ฐฉ์ ์ ๋๋ถ๋ถ์ด ํ๋ถ์ ๊ทน ๊ทผ๋ฐฉ์์ ๋ฐ์๋ ๊ฒฐ๊ณผ์ด๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 7. Tracking and Erosion์ Leakage Current (HVDC_3.5kV_Negative Polarity)
Fig. 7. Tracking and Erosion์ Leakage Current (HVDC_3.5kV_Negative Polarity)
๊ทธ๋ฆผ. 8. ํธ๋ํน ๋ฐ ํ๋ฉด์นจ์์ ์์
Fig. 8. Image of tracking and surface erosion
๊ทธ๋ฆผ. 9. ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ์ํ ํ๋ฉด๋ฐฉ์
Fig. 9. Surface discharge by tracking and erosion
ํ 3์์๋ ์ ์ฒด 360๋ถ ๋์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์ ์คํ๊ฒฐ๊ณผ (+)HVDC์ (-)HVDC ๋์ค์ ๋ฅํฌ๊ธฐ์ ๋ฐ๋ฅธ ์ ๋ฅํ์ค์์์ ๊ด๊ณ๋ฅผ ๋ํ๋ด๊ณ ์๋ค. (+)HVDC์์๋
5mA ์ดํ์ ์ ๋ฅํ์ค์๊ฐ 65.3%์ ๋ํ๋ด์๋ค. ์ด๋ ๋ฌด ๋ฐฉ์ ์ ๋์ค์ ๋ฅ๋ก์, ์นจ์์ ํฐ ์ํฅ์ ์ฃผ์ง ๋ชปํ ์ ๋ฅ์ด๋ค. ๊ทธ๋ฌ ๋ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์
์ํฅ์ ์ฃผ๋ ์ ๋ฅํฌ๊ธฐ๋ 20mA ์ด์์ ์ ๋ฅํฌ๊ธฐ๋ก ๊ฑด์กฐ๋์ ์ํ ์ํฌ์ฑ ์ ๋ฅ๊ฐ ์ฃผ์ธ์ด์ ์ํด ํ๋ฉด์จ๋๋ฅผ ์ฆ๊ฐ์์ผ ํ๋ฉด์ด์ ์ดํ๋ฅผ ๊ฐ์์ํค๊ณ ํธ๋ํน
๋ฐ ์นจ์์ ํฌ๊ฒ ์ํฅ์ ์ฃผ๋ ์์๋ก์ 25.81%์ ๋ํ๋ด์๋ค[2].
ํ 3. ์ ๋ฅํฌ๊ธฐ ๋ฐ ํ์ค ์์ ๋ฐ๋ฅธ ์ ๊ทน์ฑ๊ณผ ๋ถ๊ทน์ฑ ๋น๊ต
Table 3. Comparison of positive polarity and negative polarity according to current
amplitude and pulse number
$ \quad \quad \quad \quad $LC
Polarity
|
5mA ์ดํ
|
10~20mA
|
20~53.98mA
|
(+) HVDC
|
65.3%
|
8.89%
|
25.81%
|
(-) HVDC
|
38.07%
|
1.38%
|
60.55%
|
(-)HVDC์์๋ 5mA ์ดํ๋ 38.07%์ด์๊ณ 20~53.98mA ์ ๋ฅํฌ๊ธฐ๋ 60.55%์ ๋ํ๋ด์๋ค. ๋์ค์ ๋ฅํฌ๊ธฐ ๋ง์ ํ๊ฐ๋ก์๋ (-)HVDC๊ฐ
๊ฐํนํ ์กฐ๊ฑด์์ ์ ์ ์๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ ํ 4์ ํ๋ฉด ์นจ์์ ๋ณผ ๋, (+)HVDC์ ๊ฒฝ์ฐ ์์ค ์นจ์๋์ ๊ฒฝ์ฐ 3๊ฐ ์ํ์ ์นจ์๋์ ํ๊ท ๊ฐ์ 1.22g์ด์๊ณ , (-)HVDC์ ๊ฒฝ์ฐ 0.937g์ผ๋ก
์คํ๋ ค (+)HVDC ๊ทน์ฑ์ด ๊ฐํนํจ์ ์ ์ ์์๋ค. (-)HVDC๊ฐ (+)HVDC๋ณด๋ค ๊ทน์ฑ์ ์ํฅ์ ๊ทผ๋ณธ์ ์ธ ์์ธ์ ๊ท๋ช
ํ ํ์๊ฐ ์๋ค[3,13].
ํ 4. ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ๊ธฐ์ธํ ์นจ์ ์์ค์ค๋
Table 4. Erosion Loss Weight due to Tracking and Erosion
HVDC Voltage & Polarity
|
Types of Sample
|
Sample Number
|
A[g]
|
B[g]
|
C[g]
|
Average
|
3.5 kV_Positive
|
Dow Corning, RBL_1551_55P SiR
|
1.17
|
1.93
|
0.55
|
1.220
|
3.5 kV_Negative
|
Dow Corning, RBL_1551_55P SiR
|
1.38
|
0.73
|
0.68
|
0.937
|
3.5 kV_Positive
|
Dow Corning, RBL_1551_55P/nano silica_15wt%
|
2.22
|
0.54
|
3.22
|
1.998
|
3.5 kV_Negative
|
Dow Corning, RBL_1551_55P/nano silica_15wt%
|
0.88
|
0.43
|
0.31
|
0.547
|
3.1.2 RBL_55P Original+Nano Silica_15wt% Composites/ HVDC_ 3.5kV /Positive and Negative
3.1.2.1 Positive Polarity
๊ทธ๋ฆผ. 10~๊ทธ๋ฆผ. 12์์๋ Dow Corning ์ฌ (RBL-1551-55P) ๋น์ค(1.09)์ ๊ฐ๋ ์ค๋ฆฌ์ฝ์์ง์ ํ๋ฉด ์ฒ๋ฆฌ๋ ๋๋
ธ์ค๋ฆฌ์นด 15wt%์ ์ถฉ์ง๋ถ์ฐ์ํจ ๋๋
ธ์ฝคํฌ์งํธ๋ฅผ
์ ์กฐํ์๋ค.
(+) HVDC_3.5kV์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์ ์คํ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๋์ค์ ๋ฅ, ํ๋ฉด์นจ์ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์์์ ๋ํ๋ด์๋ค. (+)HVDC ์ธ๊ฐํ 28๋ถ์์ ์ฒซ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ด
๊ฐ์๋์๊ณ ๊ทธ๋ ๋์ค์ ๋ฅ ์ต๋๊ฐ์ 16.02mA๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค. ๋ฌด๋ฐฉ์ ์ํ์ธ 28๋ถ ์ด์ ๊น์ง๋ ์์ ์ค๋ช
ํ ์ต์คํ ์กฐ๊ฑด์์ ๋์ค์ ๋ฅ๋ 1.12~1.73mA์
๋ํ๋ด์๋ค. ์ฒ์๋ฐฉ์ ๊ฐ์๋ก๋ถํฐ ์ด๋ฐ(69๋ถ ๋์)์ ์ง์์ ์ธ ๋ฐฉ์ ์ด ์ด์ด์ก๊ณ ๊ทธ๋ ๋์ค์ ๋ฅ ํฌ๊ธฐ๋ 15.02~48.44mA์ ๋ํ๋ด์๋ค. ์ํ 3๊ฐ๋ฅผ
(+)HVDC 3.5kV๋ฅผ ์ธ๊ฐํ์ฌ, ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์คํ ๊ฒฐ๊ณผ ๊ทธ๋ฆผ. 11์ ์นจ์๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ ๊ทธ๋ฆผ. 10 ๋์ค์ ๋ฅ ํน์ฑ๊ฒฐ๊ณผ๋ ๊ทธ๋ฆผ. 11(b)์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๋ํ๋ธ ๊ฒ์ด๋ค. ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์๊ฒฐ๊ณผ ์นจ์๋์ ๋ํ ํ๊ฐ๊ฒฐ๊ณผ๋ ํ 4์์ ๋ํ๋ด์๋ค. 3๊ฐ ์ํ์ ์์ค์ค๋์ ํ๊ท ํ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค. ๊ทธ๋ฆผ. 5(b)์ ๊ฒฝ์ฐ๋ 0.54g์ผ๋ก 69๋ถ ๋์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์ ํ ์ดํ ๋ฐฉ์ ์ด ๋ฐ์ํ์ง ์์ ๊ฒฐ๊ณผ์ด๋ค. ์ด๋ ์ค์์ก์ด 98๋ถ ์ดํ ํํ๋ฌผ์ด ์์ด๊ณ ์ผ์ ํ๊ฒ
์ค์์ก์ด ํํ๋ ๋ ํ๋ถ์ ๊ทน์ผ๋ก ํ๋ฅด์ง ๋ชปํ๊ณ ๋ฐ์ผ๋ก ๋จ์ด์ง ๊ฒฐ๊ณผ๋ก์ ์ดํ ๋ฐฉ์ ์ด ๋ฐ์ํ์ง ๋ชปํ ๊ฒฐ๊ณผ์ด๋ค[13,15]. ๊ทธ๋ฌ๋ ๊ทธ๋ฆผ. 11(a)~๊ทธ๋ฆผ. 11(c)์ ์นจ์๊ฒฐ๊ณผ๋ ๋งค์ฐ ๊ฐํนํ ์ํ๋ฅผ ๋ณด์ฌ์ฃผ๊ณ ์๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 10. Tracking and Erosion์ Leakage Current (HVDC_3.5kV_Positive Polarity)
Fig. 10. Tracking and Erosion์ Leakage Current (HVDC_3.5kV_Positive Polarity)
๊ทธ๋ฆผ. 11. ํธ๋ํน ๋ฐ ํ๋ฉด์นจ์์ ์์
Fig. 11. Image of tracking and surface erosion
๊ทธ๋ฆผ. 12. ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ์ํ ํ๋ฉด๋ฐฉ์
Fig. 12. Surface discharge by tracking and erosion
3.1.2.2 Negative Polarity
๊ทธ๋ฆผ. 13~๊ทธ๋ฆผ. 15์์๋ Dow Corning ์ฌ(RBL-1551-55P) ๋น์ค(1.09)์ ๊ฐ๋ ์ค๋ฆฌ์ฝ์์ง์ ํ๋ฉด ์ฒ๋ฆฌ๋ ๋๋
ธ์ค๋ฆฌ์นด 15wt%์ ์ถฉ์ง๋ถ์ฐ์ํจ ๋๋
ธ์ฝคํฌ์งํธ์
(-) HVDC_3.5kV์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์ ์คํ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๋์ค์ ๋ฅ, ํ๋ฉด์นจ์ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์์์ ๋ํ๋ด์๋ค. (-)HVDC ์ธ๊ฐ ํ 25๋ถ์์ ์ฒซ
ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ด ๊ฐ์๋์๊ณ ๊ทธ๋ ๋์ค์ ๋ฅ ์ต๋๊ฐ์ -18.98mA๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค. ๋ฌด๋ฐฉ์ ์ํ์ธ 25๋ถ ์ด์ ๊น์ง๋ ์์ ์ค๋ช
ํ ์ต์คํ ์กฐ๊ฑด์์ ๋์ค์ ๋ฅ๋ 1.08~
1.54mA์ ๋ํ๋ด์๋ค. ์ฒ์๋ฐฉ์ ๊ฐ์๋ก๋ถํฐ 360๋ถ ์ข
๋ฃ์๊น์ง ์ง์์ ์ผ๋ก ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ด ์ง์๋์๊ณ , ๊ฑด์กฐ๋๋ฐฉ์ ๋ฐ ๋์ ์ฑ ์ค์์ก์ ์ํด ์ง์์ ์ธ ๋ฐฉ์ ์ด
๋ฐ์ํ์๋ค. ๋์ค์ ๋ฅํฌ๊ธฐ๋ ์ฆ๊ฐํ์์ผ๋ฉฐ, ๊ทธ๋ก์ธํ ์ฃผ์ธ์ด์ ๋ฐ์๊ณผ ์ํฌ์ฑ์ ๋ฐฉ์ ์ผ๋ก ์ธํ ํ๋ฉด์ ๋ฐฉ์ ์ด ๋ฐ์ํ ์ ์๊ฐ ๋์ ์ดํ์ ์ธก์ ๊ธฐ๋ก๋ถํฐ ์ธก์ ๋
์จ๋ 370โ๊ฐ ์ง์๋์๋ค. ๋์ค์ ๋ฅ ํฌ๊ธฐ๋ โ15.29~-47.63mA๋ก์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ด ๊ฐ์๋ ์๋ก ์ ์ง์ ์ธ ๋์ค์ ๋ฅ์ ์ฆ๊ฐ๋ฅผ ๊ฐ์ ธ์ ์ด์ ์ดํ
๋ฐ ํ๋ฉด์นจ์์ด ์งํ๋์๋ค[14,15]. ํน์ง์ ์ธ ๊ฒ์ (+)HVDC์ ๊ฒฝ์ฐ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์์ ๊ฐํ์ ์ธ ๋ฐฉ์ ์ ๋ฐ์์ด ๋น๋ฒํ๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ (-)HVDC์ ๊ฒฝ์ฐ ์ค์์ก์ด ํ๋ถ์ ๊ทน์ผ๋ก ๋จ์ด์ง๋
์๊ฐ๋ถํฐ ์ง์์ ์ธ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ด ๋ฐ์ํ์๋ค[16].
๊ทธ๋ฆผ. 13. Tracking and Erosion์ Leakage Current ( HVDC_3.5kV_Negative Polarity)
Fig. 13. Tracking and Erosion์ Leakage Current ( HVDC_3.5kV_Negative Polarity)
๊ทธ๋ฆผ. 14. ํธ๋ํน ๋ฐ ํ๋ฉด์นจ์์ ์์
Fig. 14. Image of tracking and surface erosion
๊ทธ๋ฆผ. 15. ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ์ํ ํ๋ฉด๋ฐฉ์
Fig. 15. Surface discharge by tracking and erosion
๊ทธ๋ฆฌ๊ณ (-)HVDC ๋ฐฉ์ ์ ๊ฒฝ์ฐ ํ๋ถ์ ๊ทน์์ ๋ฐฉ์ ์ด ๊ฐ์๋์ด ์ด๋๋ฐฉ์ ์ด ํฌ๊ฒ ๋ฐ์ํ์ง ์์์ผ๋ฉฐ, ํ๋ถ์ ๊ทน ๋ถ๊ทผ์์ ์ง์ค์ ์ผ๋ก ๋ฐฉ์ ์ด ์ง์๋๋ ํน์ฑ์
๋ํ๋ด์๋ค. ํ 4์ ํธ๋ํน ๋ฐ ํ๋ฉด์นจ์์ (+)HVDC์ (-)HVDC์ ๊ทน์ฑ ํ๊ฐ์์ ๋ณผ ๋, ํ๋ฉด์นจ์๋์ด (+)HVDC๊ฐ (-)HVDC๋ณด๋ค ๋ง์ ์นจ์๋์ ๋ํ๋ด๊ณ
์๋ค. ๋ํ (+)HVDC ์คํ์์ RBL-1551-55P/๋๋
ธ์ค๋ฆฌ์นด_15wt%์ ์ถฉ์ง๋ถ์ฐ์ํจ ๋๋
ธ์ฝคํฌ์งํธ์ ๊ฒฝ์ฐ RBL-1551-55P๋ณด๋ค ์คํ๋ ค
ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ด ์ฉ์ดํ๊ฒ ๋ ๊ฒฐ๊ณผ์ด๋ค. ์ด๋ ํ๋ฉด์ฒ๋ฆฌ๋ ๋๋
ธ์ค๋ฆฌ์นด ์ถฉ์ง์ผ๋ก ๋ฏธ๋ถ์ฐ๋ ์
์์ ์์ง๋ ์
์์ ์กด์ฌ์ ๊ฐ๋ฅ์ฑ์ด ๋งค์ฐ ํฌ๊ณ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ๋ฏธ์
๋ณด์ด๋์ ์กด์ฌ์ ์ํ์ฌ ์คํ๋ ค ๊ฒฐํจ์ ๊ฐ๋ ๊ฒฝ์ฐ๋ก ์ฌ๋ฃ๋๋ค[12,13,15].
4. Conclusion
๋ณธ ๋
ผ๋ฌธ์์๋ HVDC ์ด๊ณ ์์ฉ ์ ์์ ์ ์ฐ์์ฌ๋ฅผ ๊ฐ๋ฐํ๊ธฐ ์ํ์ฌ Dow Corning ์ฌ RBL-1551-55P์ ํ์ ์ด์ฉํ์ฌ, 2์ข
๋ฅ์ ์ํ์
์ ์กฐํ์๋ค. RBL-1551-55P ์ํ๊ณผ RBL-1551-55P/ํ๋ฉด์ฒ๋ฆฌ๋ ๋๋
ธ์ค๋ฆฌ์นด 15wt% ์ถฉ์ง๋ ์ฝคํฌ์งํธ ๋ ์ข
๋ฅ์ ๋๋
ธ์ฝคํฌ์งํธ์ ๋ํ์ฌ
IPT ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์์คํ
์ ์ด์ฉํ์ฌ (+)HVDC์ (-)HVDC ๊ทน์ฑ์ ๊ดํ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ๊ดํ ์ฐ๊ตฌ๋ฅผ ์ค์ํ์๋ค. ์คํ์ pass ๋ฐ fail์
๊ฒฝ์ฐ, ํ์ฌ๊น์ง HVDC์ ๊ฒฝ์ฐ ๊ตญ์ ์ ์ธ ๊ธฐ์ ๊ธฐ์ค์ด ๋ง๋ จ๋์ง ๋ชปํ ์ํ์ด๋ฉฐ, AC์ ๊ฒฝ์ฐ IEC 60587์ ์ฌ์ฉํ๊ณ ์๋ค. ์์ ๊ฐ์ AC๊ท์ ์
์ ์๋ง HVDC์ ์ ์ฉํ๊ณ , ๋๋จธ์ง ๊ท์ ์ IEC 60587์คํ์ฌ ์ค์ํ์๋ค. ๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ ๋ค์๊ณผ ๊ฐ์ ๊ฒฐ๋ก ์ ์ป์๋ค.
์ฒซ์งธ, ๋ ์ข
๋ฅ์ํ์ธ RBL-1551-55P ์ํ ์ ํ, RBL-1551- 55P/nano silica_15wt% ์ถฉ์ง๋ถ์ฐ๋ ๋๋
ธ์ฝคํฌ์งํธ์ ํธ๋ํน
๋ฐ ์นจ์์คํ๊ฒฐ๊ณผ (+) HVDC 3.5kV, (-)HVDC 3.5kV์ ๋ํ ๋ ์ข
๋ฅ ์คํ๊ฒฐ๊ณผ 60mA/2s ์กฐ๊ฑด์ผ๋ก 6์๊ฐ์ด pass ๋์๋ค.
๋์งธ, (+)HVDC์ (-)HVDC์ ๊ทน์ฑ์ ๋ํ์ฌ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์๊ฒฐ๊ณผ๋ก์, ๋์ค์ ๋ฅ ํน์ฑ์ผ๋ก ๋ณผ ๋ (-)HVDC๊ฐ (+)HVDC๋ณด๋ค ํธ๋ํน ๋ฐ
์นจ์์ ์ํฅ์ ์ฃผ๋ ์ ๋ฅ์ ํฌ๊ธฐ ๋ฐ ์ ๋ฅํ์ค์๊ฐ ์๋์ ์ผ๋ก ๊ฐํนํ ์กฐ๊ฑด์์ ์ ์ ์์๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ ์ค์ ํ๋ฉด์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์๊ฒฐ๊ณผ์ธ ์นจ์๊น์ด์ ํธ๋ํน๊ธธ์ด์
์์์ ๋ณผ ๋, (+)HVDC๊ฐ (-)HVDC๋ณด๋ค ํจ์ฌ ๋ ๊ฐํนํ ์กฐ๊ฑด์์ ์ ์ ์์๋ค. ์์ ๊ฐ์ ์ฐ๊ตฌ๋ด์ฉ์์ (-)HVDC๊ฐ ๊ฐํนํ ๋์ค์ ๋ฅ์
๋ฐ์ํ์์์๋ ์นจ์์ ๋๊ฐ ๋ฎ์ ์ด์ ๋ฅผ ์ฐ๊ตฌํ ํ์์ฑ์ ๊ฐ๊ฒ ๋์๋ค.
์
์งธ, (-)HVDC์ ๊ฒฝ์ฐ ํ๋ถ์ ๊ทน์ ํธ๋ํน ๋ฐ ํ๋ฉด์์นจ์์ด ์ง์ค๋์๊ณ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ์ด๋๋ฐฉ์ ์ ๋ฐ์์ด ์ ์๊ณ ๋ฐ๋๋ก (+)HVDC์ ๊ฒฝ์ฐ ํ๋ถ์ ๊ทน์์๋ถํฐ
๋ฐฉ์ ์ด ๊ฐ์๋์ด ์ด๋๋ฐฉ์ ์ ํตํ์ฌ ์๋ถ์ ๊ทน์ผ๋ก ์ด๋๋๋ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๊ฐ์ ธ์๋ค. ์ด์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ ์ฌ๋ฌ ์ฐ๊ตฌ์์ ๋์ผํ ๊ฒฐ๋ก ์ ๊ฐ์ง ์ ์์๋ค.
๋ท์งธ, ๋๋
ธ์
์์ ๊ท ์งํ ๋ถ์ฐ๊ณผ ์
์์ ์ค๋ฆฌ์ฝ์์ง์์ ๊ฒฐํฉ๋ ฅ์ ์ํด ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ํฐ ์ํฅ์ ์ฃผ๋ ๊ฒ์ ์ ์ ์์๋ค.
๊ฐ์ฌ์ ๊ธ
๋ณธ ์ฐ๊ตฌ๋ 2018๋ ์ค๋ถ๋ํ๊ต ์ง์์ ์ํ์ฌ ์ด๋ฃจ์ด์ง ์ฐ๊ตฌ๋ก์, ๊ด๊ณ๋ถ์ฒ์ ๊ฐ์ฌ๋๋ฆฝ๋๋ค.
References
Krivda Andrej, Schmidt Lars E., Kornmann Xavier, Ghorbani Hossein, Ghorbandaeipour
Ali, Eriksson Maria, Hillborg Henrik, 2009, Inclined-plane tracking and erosion test
according to the IEC 60587 Standard, IEEE Electrical Insulation Magazine, Vol. 25,
No. 6, pp. 14-22
Bruce G. P., Rowland S. M., Krivda A., 2010, Performance of Silicone Rubber in DC
Inclined Plane Tracking Tests, IIEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation,
Vol. 17, pp. 521-532
Moreno V. M., Gorur R. S., 1999, AC and DC performance of polymeric housing materials
for HV outdoor insulators, IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation,
Vol. 6, pp. 342-350
Meyer L. H., Jayaram S. H., Cherney E. A., 2004, Correlation of damage, dry band arcing
energy, and temperature in inclined plane testing of silicone rubber for outdoor insulation,
IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, Vol. 11, pp. 424-432
Sarathi R., Chandrasekar S., Yoshimura N., 2006, Investigation of Tracking Phenomena
in Outdoor Polymeric Insulation Material Under DC Voltages Using Wavelets, IEEE Trans.
Power Delivery, Vol. 21, pp. 515-517
Bruce G. P., Rowland S. M., Krivda A., 2010, Performance of Silicone Rubber in DC
Inclined Plane Tracking Tests, IEEE Trans. Dielectr. Electr. Insul., Vol. 17, pp.
521-532
Mathes K., McGowan E., Jul. 1961, Surface electrical failure in the presence of contaminants:
The inclined-plane liquid-contaminant test, Trans. Am. Inst. Electr. Eng., Part I
(Comm. Electron.), Vol. 80, pp. 281-289
Electrical Insulating Materials Used Under Severe Ambient Conditions Test Methods
for Evaluating Resistance to Tracking and Erosion, IEC 60587 2007-05
Gorur R. S., Cherney E. A., Hackam R., 1988, The AC and DC performance of polymeric
insulating materials under accelerated aging in a fog chamber, IEEE Trans. Power Del.,
Vol. 3, pp. 1892-1902
Mailfert R., Pargamin L., Riviere D., 1981, Electrical reliability of DC line insulators,
IEEE Trans. Electr. Insul, Vol. EI-16, No. 3, pp. 267-276
Bossi S., Pigini A., Fini G. P., Channakeshava A. Porrino, Vasudev N., Ramamoorty
M., 1994, Study of the performance of composite insulators in polluted conditions,
Cigre Report, pp. 33โ104-1โ7
Vimal Vas Joseph, Venkatesulu B., Joy Thomas M., February 2012, Tracking and Erosion
of Silicone Rubber Nanocom- posites under DC Voltages of both Polarities, IEEE Transactions
on Dielectrics and Electrical Insulation, Vol. 19, No. 1
Loganathan N., Muniraj C., Chandrasekar S., October 2014, Tracking and Erosion Resistance
Performance Investigation on Nano-sized SiO2 Filled Silicone Rubber for Outdoor Insulation
Applications, IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, Vol. 21,
No. 5
Rowland S. M., Bruce G. P., Liu Yuting, Krivda A., Schmidt L. E., April 2011, Use
of Image Analysis in DC Inclined Plane Tracking Tests of Nano and Micro Composites,
IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, Vol. 18, No. 2, pp. 365-374
Ghunem R. A., Jayaram S. H., Cherney E. A., 2014, Investigation into the Eroding Dry-Band
Arcing Mechanism under DC using Wavelet Based Multiresolution Analysis, IEEE Trans.
Dielectr. Electr. Insul, Vol. 21, No. 2, pp. 713-720
Ghunem R. A., Jayaram S. H., Cherney E. A., 2013, Erosion of Silicone Rubber Composites
in the AC and DC Inclined Plane Tests, IEEE Trans. Dielectr. Electr. Insul, Vol. 20,
No. 1, pp. 229236
Ghunem R. A., Jayaram S. H., Cherney E. A., 2013, Erosion of Silicone Rubber Composites
in the AC and DC Inclined Plane Tests, IEEE Trans. Dielectr. Electr. Insul, Vol. 20,
No. 1, pp. 229236
์ ์์๊ฐ
๋ฐ ์ฌ ์ค (Jae-Jun Park)
1985๋
๊ด์ด๋ํ๊ต ์ ๊ธฐ๊ณตํ๊ณผ ํ์ฌ
1987๋
๊ด์ด๋ํ๊ต ์ ๊ธฐ๊ณตํ๊ณผ ์์ฌ
1993๋
๊ด์ด๋ํ๊ต ์ ๊ธฐ๊ณตํ๊ณผ ๋ฐ์ฌ
1997๋
~ํ์ฌ ์ค๋ถ๋ํ๊ต ์ ๊ธฐ์ ์๊ณตํ๊ณผ ๊ต์
E-mail : jjpark@joongbu.ac.kr