์ ๊ธฐ์
(Ki-Seok Jeong)
โ iD
๊น์์
(Young-Seok Kim)
1iD
๊น์ข
๋ฏผ
(Chong-Min Kim)
1iD
๊ถ์ค๋ฏผ
(Oh-Min Kwon)
1iD
-
(Electrical Safety Research Institute, Korea Electrical Safety Corporation, Korea.)
Copyright ยฉ The Korean Institute of Electrical Engineers(KIEE)
Key words
PVC Insulated Wires, Insulation Degradation, Dielectric Breakdown, Reliability Analysis
1. ์ ๋ก
ํ์ฌ ์ ๊ธฐ์ค๋น์ ์๋ช
์ฐํ์ ๊ณ ์ ์ด์์ ์ค๋น ์์ฃผ๋ก ์ ์๋๊ณ ์๋ค. ํ๊ตญ์ ๊ธฐ์์ ๊ณต์ฌ์ 2018๋
๋ ์ ๊ธฐ์ฌํด ํต๊ณ๋ถ์ ์๋ฃ์ ๋ฐ๋ฅด๋ฉด, ์ ์(380/220
V) ์ ๊ธฐํ์ฌ๋ ์ ์ฒด ์ฌ๊ณ ์ ์ฝ 75 %๋ฅผ ์ ์ ํ๊ณ ์์ผ๋ฉฐ, ์ธ์
๊ตฌ ๋ฐฐ์ , ์ฅ๋ด๋ฐฐ์ , ๊ธฐ๊ธฐ๋ฐฐ์ ์ ํฌํจํ๋ ์ ์ ๋ฅ๋ ๊ธฐ๊ธฐ๋ณ ์ฌ๊ณ ํํฉ์์ 668๊ฑด์ผ๋ก
13 %๋ฅผ ์ ์ ํ๊ณ ์๋ค (1).
PVC ์ ์ฐ ์ ์ (IV, PVC insulated wire)์ ๋์ฒด ์์ ํด๋ฆฌ์ผํ๋น๋(PVC, Polyvinyl chloride), ํด๋ฆฌ์ํธ๋ (PE,
Polyethylene) ๋ฑ์ ์ ์ฐ์ฌ๋ฃ๋ง์ ํผ๋ณตํ ๊ฒ์ผ๋ก, ์ ์ฐ์ฒด๊ฐ ์ ์ฉ๋์ง ์๊ณ ์ฌ์ฉ๋๋ ๋์ ์ ๋นํด ๊ฐ์ ๋ฑ์ ์ฌ๊ณ ๋ฅผ ๋ฐฉ์งํ ์ ์๋ค (2). ๊ทธ๋ฌ๋ ๊ณ ์ ์์์๋ ์ ์ด ์ ๊ฐ์ ์ ์ํ์ด ์์ ์ ์์ด ์ฃผ๋ก ์กฐ๋ช
์ฉ, ์ ์ด์ฉ, ์กฐ์ํจ๋ ๋ฑ์์ ๋ฐฐ์ ์ฉ์ผ๋ก ๋ง์ด ์ฌ์ฉ๋๋ค. ์ ์ ๋๋ ์ผ์ด๋ธ์
์๋ช
์ ์ฃผ๋ก ์ ์ฐ์ฒด์ ์ฑ๋ฅ์ ์ข์ฐ๋๋ฉฐ, ํฌ๊ฒ ์ด์ , ๊ธฐ๊ณ์ , ์ ๊ธฐ์ ์ดํ์์ธ์ด ์์ฉํ๋ฉฐ, ์๋ช
์ ํฌ์ค์ํ์ ์๋ถ์ ์ํฅ, ์ฌ์ฉ ํ๊ฒฝ์ ๋ฐ๋ฅธ ์ฃผ์ ์จ๋,
๋ถํ์จ์ ๋ฐ๋ผ ๋ฌ๋ผ์ง๋ฏ๋ก, ๊ฐ๊ด์ ์ธ ์๋ช
์ ์์ธกํ๋๋ฐ ์ด๋ ค์์ด ์๋ค (3).
์ ์ ๊ตฌ๋ด๋ฐฐ์ ์ ๋ด๊ตฌ์ฐํ์ ๊ตญ๋ด์ ๊ฒฝ์ฐ ๊ธฐ์ค ๋ฐ ๊ด๋ จ ๊ทผ๊ฑฐ๋ ๋ช
ํํ ์ ์๋์ง ์๊ณ ์๋ค. ๊ตญ์ธ์ ๊ฒฝ์ฐ ์ผ๋ณธ์ ์ ๊ณต์
ํ(JCMA, Japanese Electric
Wire & Cable Makers' Association) ์ ์ฐ์ ์ ์ ๋ฌธ์์ํ์ ๋ณด๊ณ ์์ ๋ฐ๋ฅด๋ฉด IV, HIV ๋ฑ ์ ์ฐ์ ์ ์ ๊ฒฝ์ฐ ์ค๋ด, ์ ์ ๊ด,
๋ํธ ํฌ์ค, ๋ถ์ ๋ฐ๋ด๋ฐฐ์ ๊ณผ ์ค์ธ ํฌ์ค์ ๊ตฌ๋ถํ์ฌ ๊ฐ๊ฐ 20~30๋
, 15~20๋
์ผ๋ก ์๋ช
์ ๋ฌ๋ฆฌ ์ ์ํ๊ณ ํ๊ณ ์๋ค (4).
์ ์ ์ ์๋ช
์์ธก ์ฐ๊ตฌ๋ ํต์ ์จ๋, ์ ์ ๋ฑ ๊ฐ์์คํธ๋ ์ค ์ธ์๋ฅผ ์ด์ฉํ ํต์ ๋ ๊ฐ์์ํ์ฐ๊ตฌ๊ฐ ์ฃผ๋ฅผ ์ด๋ฃจ๊ณ ์๋ค. ๊ฐ์์คํธ๋ ์ค-์๋ช
๋ชจํ์์ผ๋ก ์จ๋์
๊ฒฝ์ฐ ์๋ ๋์ฐ์ค ์(Arrhenius equation)์ ์ ์ฉํ๋ฉฐ, ์ ์์ ๊ฒฝ์ฐ ์ญ๋์น ๋ฒ์น(Inverse square law)์ ์ ์ฉํ๋๋ฐ, ์ ๊ธฐ
์ ์ฐ์ฌ๋ฃ์ ๊ฒฝ์ฐ ์ฃผ๋ก ์จ๋๋ฅผ ์ฑํํ๊ณ ์๋ค (5). ๊ตฌ์ฒด์ ์ผ๋ก 3๊ฐ์ ์จ๋ ์กฐ๊ฑด์์ ๊ฐ์์ดํ์ํ์ ์ํํ์ฌ ๋
ธํ ์ ํ ์ ์ฐ์ฒด์ ๋ฌด๊ฒ, ์ธ์ฅ๊ฐ๋(Tensile strength), ์ ์ฅ๋ฅ (Elongation)
๋ฑ ๊ธฐ๊ณ์ ํน์ฑ ๋ณํ๋ฅผ ํตํด ํต๊ณ์ ์ผ๋ก ์๋ช
์ ์ถ์ ํ๋ ์ฐ๊ตฌ๊ฐ ์ํ๋์๋ค (6-8). ๊ฐ์์๋ช
์ํ ์ธ ์ ์ํ๊ดด์ํ์ ์ด์ฉํ ์ฐ๊ตฌ๋ ๊ฒฝ์ฐ 2006๋
9์ JCMA ๊ธฐ์ ์๋ฃ์ 6,600 V ๊ฐ๊ตํด๋ฆฌ์ํธ๋ ์ ์ฐ, ๋น๋์์ค ์ผ์ด๋ธ(CV,
XLPE Insulated and PVC Sheathed Power Cable)์ ๋์์ผ๋ก ๊ฐ์ข
ํฌ์คํ๊ฒฝ ํ์์ ์ฅ๊ธฐ๊ฐ ์ฌ์ฉ๋ ์๊ฑฐ ์ผ์ด๋ธ์ ์ฌ์ฉ์ฐ์์
์์กด๊ต๋ฅ ํ๊ดด์ ์ํน์ฑ์ ๊ด๊ณ๋ฅผ ์กฐ์ฌํ์ฌ ๋ฌผ์ ์ํฅ ์ฌ๋ถ์ ๋ฐ๋ผ ์์ ๊ฒฝ์ฐ 17๋
, ์์ ๊ฒฝ์ฐ 27๋
์ ์ ์ํ ์ฌ๋ก๊ฐ ์๋ค (9).
๋ณธ ์ฐ๊ตฌ์์๋ 450/750V PVC ์ ์ฐ์ ์ ์ 3๊ฐ์ ์๋ช
๊ทธ๋ฃน๋ณ๋ก ํ์ฅ์์ ์๊ฑฐํ์ฌ ์ ์ฐํ๊ดด์ํ์ ์ํํ์ฌ ์ฌ์ฉ๊ธฐ๊ฐ๊ณผ ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ ๊ฐ์ ์๊ด์ฑ์ ๋ถ์ํ์๋ค.
์ํ์ IV ์ ์ฐ์ ์ ์๋ฃ์ AC์ ์์ ์ผ์ ์๋๋ก ์ธ๊ฐํ์ฌ ์ ์ฐํ๊ดด ์ ์์ ์ธก์ ํ์๋ค. ์ด๋ก๋ถํฐ ์ป์ด์ง ์ ์ฐํ๊ดด์ ์ ๋ฐ์ดํฐ๋ฅผ ํต๊ณ๋ถ์ํ๋ก๊ทธ๋จ์ ํ์ฉํ์ฌ
๋์์ ๊ท๋ถํฌ(Log-normal distribution) ํ๋ฅ ์ ์ด์ฉํ์ฌ ์ ๊ธฐ ์ ์ฐ ์ฌ๋ฃ์ ์๋ช
ํ๊ฐ ๊ธฐ์ค๊ณผ ๋ฐฑ๋ถ์์์ ๋ฐ๋ฅธ ํต๊ณ์ ์๋ช
์ ์ถ์ ํ์๋ค.
2. ์ ์ฐํ๊ดด์ ์๋ช
์์ธก์ ๋ํ ์ด๋ก ์ ๊ณ ์ฐฐ
2.1 ์ ๊ธฐ ์ ์ฐ์ฌ๋ฃ์ ์ ์ฐํ๊ดด ๋ฉ์ปค๋์ฆ
์ ๊ธฐ์ฌ๋ฃ์ ์ ์ฐํ๊ดด ํ์์ ์ธ๊ฐ๋๋ ์ ๊ณ๊ฐ ํฌ๊ฒ ๋์ด ํน์ ๊ฐ์ ๋๋ฌํ๋ฉด ๊ฐ์๊ธฐ ๋์ ๋ฅ๊ฐ ํ๋ฌ ๋์ฒด์ ๊ฐ์ด ๋๋ ํ์์ ์๋ฏธํ๋ค. ์ ์ฐํ๊ดด์ ์์ V
๋ผ ํ๊ณ ์๋ฃ์ ๋๊ป d๋ก ๋๋ ๊ฐ์ ์ ์ฐํ๊ดด๊ฐ๋ v ๋๋ ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ์ผ๋ก ์ ์ํ๋ค. ์ ์ฐ์ฒด ์๋ฃ์ ๋๊ป๋ฅผ ์ฆ๊ฐ์ํค๋ฉด ์ ์ฐํ๊ดด์ ์์ ์ฆ๊ฐํ๋ ์ ์ฐํ๊ดด๊ฐ๋
๋๋ ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ์ ๊ฐ์ํ๋ค (10). ์ ์ฐ์ฒด์ ๋๊ป์ ์ ์ฐ๊ฐ๋์ ์๊ด์ฑ์ Kinzbrunner ์ V=vd1/2๊ณผ Baur ์ V=ฮบd2/3์ผ๋ก ์ ์๋๋ค
(11). ์ฌ๊ธฐ์ ฮบ๋ ์์์ด๋ค. ์ ์ฐํ๊ดด๊ฐ๋์ ๊ฐ์์๊ฐ์ ์งง์ ์๊ฐ์ ๊ณ ์์ ๊ฒฌ๋ ์ ์์ผ๋ ์ฅ์๊ฐ์ผ ๊ฒฝ์ฐ ํจ์ฌ ๋ฎ์ ์ํ์ ์์์๋ ํ๊ดด๋
์ ์๋ค. ์ด๋ ์ ์ ์ฒด๋ฅผ ํ๊ดด ์ํค๋ ๋ฐ ์ผ์ ๋ ์ด์์ ์๋์ง๊ฐ ํ์ํจ์ ์๋ฏธํ๋ค. ๊ทธ ์ธ ์ ์ฐํ๊ดด ์ํ ์ ์ํ์ ์ ์ข
๋ฅ, ์ธ๊ฐ์ ์์ ์ฃผํ์, ์๋ฃ
ํ๋ฉด์ ์ต์ค ์ํ, ์ธก์ ์จ๋ ๋ฑ ์ ๋ฐ๋ผ ์ธก์ ๊ฐ์ ๋ค๋ฅด๊ฒ ์ป์ ์ ์๋ค.
2.2 ์ ๊ธฐ์ ์ฐ์ฌ๋ฃ์ ์๋ช
์์ธก ๊ธฐ๋ฒ
์ ์ฐ์ฌ๋ฃ์ ์ดํ ์์ธ์ ํฌ๊ฒ ์ด์ , ์ ๊ธฐ์ , ํ๊ฒฝ์ , ๊ธฐ๊ณ์ (TEEM, Thermal, Electrical, Environmental and Mechanical)
์คํธ๋ ์ค๋ก ๊ตฌ๋ถ๋๋ค (3). ์ ๊ธฐ ์ ์ฐ์ฌ๋ฃ๋ ์ ๊ธฐ๊ธฐ๊ธฐ์ ์ ๋ฅ์ ์ํ ๋ฐ์ด๋ก ์ด์ ์ดํ๊ฐ ์งํ๋๋ฉฐ, ์ฌ์ฉ ์ฉ๋์ ํ๊ฒฝ์ ๋ฐ๋ผ ์ดํฝ์ฐฝ๊ณผ ์์ถ ๋ฑ ๊ธฐ๊ณ์ ๋ง๋ชจ์ ์ํ ์ดํ, ๊ณ ์ ๊ณ
๋ฑ ์ ๊ธฐ์ ์ดํ ๋ฑ์ด ์ง์์ ์ธ ์ฑ๋ฅ ์ ํ๊ฐ ์งํ๋๋ค. ๋
ธํ ์ ์ฐ์ฌ๋ฃ์ ๊ฒฝ์ฐ ์ด๋ฌํ ์ดํ ์์ธ์ด ๋ณตํฉ์ ์ผ๋ก ์์ฉ๋์์ ๊ฒ์ผ๋ก ๊ฐ์ ํ๋ฉฐ, ์ฌ์ฉ ๊ธฐ๊ฐ๋ณ๋ก
์ ์ฐ์ฑ๋ฅ ์ ํ๋ฅผ ํ๋จํ ์ ์๋ ํน์ฑ์น๋ก ์ธ์ฅ์ธ๊ธฐ, ์ ์จ, ๋์ ์จ, ํ๊ดด์ ์ ๋ฑ์ ํ๊ฐ ์์๋ฅผ ์ ์ฉ๋๊ณ ์๋ค.
์ ์ฐ์ฌ๋ฃ์ ์๋ช
์ ์ ๋ขฐ๋ ๋ถ์์ ํตํด ํ๋ฅ ๋ณ์๋ก ํํ๋๋ฉฐ, ์ ํ์ด ๊ณ ์ฅ ์์ด ๊ธฐ๋ฅ์ ์ํํ๋ ํน์ ์๊ฐ์ผ๋ก ์ ์๋๋ค. ๋
ธํ IV์ ์ ์ ์ ์ฐ์ฌ๋ฃ์
์ ์ฐํ๊ดด ์ํ ๋ฐ์ดํฐ๋ ํต๊ณ ๋ถ์ ๊ธฐ๋ฒ์ ์ ์ฉํ ์๋ช
ํ๊ฐ์ ํ์ฉํ๋ค. ์ผ๋ฐ์ ์ผ๋ก ํ๋ฅ (Probability)๋ก ์ ์๋๋ ๊ฐ๋
์ ์ ๋ขฐ๋๋ฅผ ์ ์ฉํ๋ค
(5).
๊ทธ๋ฆผ. 1. ์ ์ฐ์ดํ์ ๊ทผ๋ณธ ์์ธ
Fig. 1. Root causes of insulation deterioration
๊ทธ๋ฆผ 1์ ์ ๋ขฐ์ฑ ๊ด๋ จ ์ฒ๋๋ฅผ ๊ฐ๋
์ ์ผ๋ก ๋ํ๋ธ ๊ฒ์ผ๋ก, ์ ๋ขฐ๋ ํจ์(R(t), Reliability function or Survival function)๋
์ฃผ์ด์ง t ์์ ์ด์ ๊น์ง ๊ณ ์ฅ์ด ๋์ง ์์ ํ๋ฅ ๋ก ์ (1)๊ณผ ๊ฐ์ด ์ ์๋๋ค.
์ฌ๊ธฐ์, T๋ ์ ํ์ ์๋ช
(Lifetime) ๋๋ ๊ณ ์ฅ์๊ฐ(Failure time)์ด๋ฉฐ, F(x)๋ ์๋ช
์ ๋์ ๋ถํฌํจ์(CDF, Cumulative
Density function)๋ก t ์ด๋ด์ ๊ณ ์ฅ์ด ๋ฐ์ํ ํ๋ฅ ๋ก ์ ์๋๋ค.
์ ๋ขฐ์ฑ ์ฒ๋๋ก MTTF(MTTF, Mean Time To Failure), MTBF(MTBF, Mean Time Between Failure), ๋ฐฑ๋ถ์์(percentile)
๋ฑ์ด ์ฌ์ฉ๋๋ค. MTTF๋ ์๋ฆฌ ๋ถ๊ฐ๋ฅํ ์ ํ์ ๊ณ ์ฅ์ด ๋ฐ์ํ ๋๊น์ง์ ํ๊ท ์๊ฐ์ผ๋ก ์ ์๋๋ฉฐ, MTBF๋ ์๋ฆฌ ๊ฐ๋ฅํ ์ ํ์ ๊ณ ์ฅ ๊ฐ ํ๊ท ์๊ฐ์ผ๋ก
์ ์๋๋ค. ๋ฐฑ๋ถ์์๋ ๋์ ๋ถํฌํจ์ F(t)์ ๊ฐ์ด p๊ฐ ๋๋ ์์ ์ผ๋ก ์ ์๋๋ค. ์ ๋ขฐ์ฑ ๋ถ์์์๋ ์๊ฐ t์ ๋ฐ๋ฅธ ๊ณ ์ฅ๋ฅ ฮป(t)์
๊ฒฝํฅ์ ๋ฐ๋ผ ์๋ช
๋ถํฌ๋ฅผ ์ฆ๊ฐ(IFR, Increasing failure rate), ๊ฐ์(DFR, Decreasing failure rate),
์์(CFR, Constant failure rate) ๋ฑ์ผ๋ก ๊ตฌ๋ถํ ์ ์๋ค. ์ ์ฐ์ฌ๋ฃ๋ ์๊ฐ์ ๋ฐ๋ผ ์ฑ๋ฅ์ด ๊ฐ์ํ๋ฉฐ, ์ฃผ๋ก ์์กฐ๊ณก์ (Bath-tub
curve)์ผ๋ก ํํ๋๋ฉฐ, ์ด๊ธฐ๊ณ ์ฅ์ ์ค๊ณ/์ ์กฐ ์ค๋ฅ, ๋ถ์ ์ ํ ๋ถํ ์ฌ์ฉ ๋ฑ์ ์ํด ๋ฐ์ํ๋ฉฐ, ์ถฉ๋ถํ ๋๋ฒ๊น
(Debugging)๊ณผ ํ์ค ์ฌ๋ฃ ์ฌ์ฉ์ผ๋ก
ํด๊ฒฐ๊ฐ๋ฅํ๋ค. ์์๊ณ ์ฅ ์์ญ์ ์ ํ ์ฌ์์ ์ด๊ณผํ ๊ณผ์คํ ๋ถํ ๋๋ ๋ฎ์ ์์ ๋ง์ง์ ์ํด ๋ฐ์ํ๋ค. ๋์ผ๋ก, ๋ง๋ชจ๊ณ ์ฅ(Wear-out failure)์
๋ง๋ชจ, ๋
ธํ, ๋ถ์์ ์ํด ๋ฐ์ํ๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 2. ์ ๋ขฐ์ฑ ์ด๋ก ๋ฐ ์ฒ๋
Fig. 2. Conceptual diagram of theory and indicators for reliability analysis
์ ๋ขฐ์ฑ ๋ถ์์ ํต์ ํ์ฅ๋ฐ์ดํฐ(Field data) ์์ง ๋ฐ ์กฐ๊ฑด๋ณ ๋ถ๋ฅ ํ ๋ฐ์ดํฐ ๋ถํฌ ์์์ ํ์ธํ์ฌ A-D (Anderson-Darling)๊ฐ์
์ด์ฉํ์ฌ ์ ํฉํ ์๋ช
๋ถํฌ๋ฅผ ์ ์ ํ๋ค (12). ์ฌ๊ธฐ์ ์๋ช
๋ถํฌ๋ ํ๋ฅ ๋ฐ๋ํจ์ ๋๋ ๋์ ๋ถํฌํจ์๋ก ํํ๋๋ฉฐ, ์ ์ฐํ๊ดด์ํ์ ๊ฒฝ์ฐ ๋์์ ๊ท๋ถํฌ๋ฅผ ์ ํฉํ๋ค. ๋์์ ๊ท ๋ถํฌ๋ ์จ์ด๋ธ ๋ถํฌ์ ์ ์ฌํ๊ฒ
์ค๋ฅธ์ชฝ์ผ๋ก ์น์ฐ์น ๋ฐ์ดํฐ๋ฅผ ๋ชจํํ ํ ์ ์๋ค (5). ์ํํจ์๋ ์ฆ๊ฐํ๋ค๊ฐ ์ผ์ ๊ธฐ๊ฐ ํ ๊ฐ์ํ๋ ๋ชจ์์ ๋ณด์ธ๋ค. ์ด ๋ถํฌ๋ ์ดํ ๊ณผ์ ์ ์ํด ๋ฐ์๋๋ ๊ณ ์ฅ์ ๋ํ ๋ชจํ์ผ๋ก ์ ํฉํ์ฌ ์ข
์ข
ํผ๋ก์ ๋ถํ
์ํ์์ ํ๊ดด ์๊ฐ์ ๋ชจ๋ธ๋งํ๋๋ฐ ์ฌ์ฉ๋ฉ๋๋ค. ํ์ง๋ง, ๋ก๊ทธ์ ๊ท๋ถํฌ๋ ๋ถํฌ์ ๋ชจ์๊ณผ ์ ํฉํ ์ ์๋ ๊ณ ์ฅ ๋ชจ๋์ ๋ํ ๊ด์ ์์ ์จ์ด๋ธ ๋ถํฌ์ ๊ฐ์
์ ์ฐ์ฑ์ ์๋ค.
๋์์ ๊ท๋ถํฌ๋ ์์ฐ๋ก๊ทธ(Natural logarithm)๋ฅผ ์ทจํ๋ฉด ์ ๊ท๋ถํฌ๊ฐ ๋๋ ๋ถํฌ๋ผ๋ ์๋ฏธ์
๋๋ค. ์ฆ ์ฐ์ํ๋ฅ ๋ณ์ X๊ฐ ์ ๊ท๋ถํฌ N(ฮผ,ฯ2)๋ฅผ ๋ฐ๋ฅผ ๋, ํ๋ฅ ๋ณ์ T=eX์ ๋ถํฌ๋ฅผ ๊ตฌํด๋ณด๋ฉด ํ๋ฅ ๋ฐ๋ํจ์ fT(t)๋ ์ (2)์ ๊ฐ์ผ๋ฉฐ, ํ๋ฅ ๋ณ์ T๋ ๋์์ ๊ท๋ถํฌ๋ฅผ ๋ฐ๋ฅธ๋ค๊ณ ํ๋ค.
3. ์ ์ฐํ๊ดด ์ํ ๋ฐ ๋ถ์
3.1 ์ ์ฐํ๊ดด ์ํ ์ค๊ณ
์ ์ฐํ๊ดด์ํ์ ASTM D 149์ ์ํ๋ฐฉ๋ฒ๊ณผ ๊ทธ ํ๊ฐ๋ก IEC 60216-1์ ์ ์ฉํ์๋ค (13-14). ์ํ์ ์์ ์ ์ฐํ๊ดด๊ฐ 30์ด ์ด๋ด์ ์ผ์ด๋๋๋ก ์ผ์ ํ ์๋(1.0 kV/sec)๋ก ์ ์์ ์ธ๊ฐํ๋ ๋จ์๊ฐ๋ฒ(Short time)์ ์ฑํํ์๋ค.
๋
ธํ IV์ ์ ์๋ฃ๋ ๊ตญ๋ด์์ ์ฅ๋ด ๋ฐฐ์ ์ฌ๋ฃ๋ก ๋ง์ด ์ฌ์ฉ๋๊ณ ์๋ ๋จ์ฌ PVC ์ ์ฐ์ ์ ์ ์์ฑํ ํํ๋ก ์ฌ์ฉํ์์ผ๋ฉฐ, ์ฐ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ ๊ณ ๋ คํ์ฌ 500
mm์ ํฌ๊ธฐ๋ก ๊ฐ 6๊ฐ์ฉ ์ค๋นํ์๋ค. ์ฃผ์ ์ฌ์์ ์ ๊ฒฉ์ ์์ 450/750 V, ๊ตต๊ธฐ 2.5 ใ์ด๋ค. ์ปจ๋ํฐ๋ ๋จ์ฌ ๊ตฌ๋ฆฌ์ด๋ฉฐ, ์ ์ฐ์ฒด๋ PVC์ด๋ค.
์๋ฃ๋ ์ฌ์ฉ๊ธฐ๊ฐ์ ๋ฐ๋ผ ์ ํ์ ์๋ช
๊ทธ๋ฃน(Aging group) #1, ์ฌ์ฉ๊ธฐ๊ฐ 19๋
์ ์๋ช
๊ทธ๋ฃน #2, ์ฌ์ฉ๊ธฐ๊ฐ 34๋
์ ์๋ช
๊ทธ๋ฃน #3์ผ๋ก ๊ตฌ๋ถํ์๋ค.
๊ทธ๋ผ 3๊ณผ ๊ฐ์ด 16 ์๊ฐ ์์กฐ ์นจ์ ๋ฐ ์ค๊ฐ์ ์ ์ง์ ์ฐ๊ฒฐ ๋ฑ ์๋ฃ ์ ์ฒ๋ฆฌ ํ AC ์ ์์ ๋์ผ ์๋๋ก ์ธ๊ฐํ์ฌ ํ๊ดด ์์ ์ ์ ์์ ์ธก์ ํ์๋ค.
ํ 1. AC ์ ์ฐํ๊ดด์ํ ์ค๊ณ
Table 1. AC breakdown voltage test design
Test system
|
AC Dielectric Test System
|
Test method
|
Short time method
|
Test voltage
|
1.0 kV/sec until 30 kV
|
Failure Criteria
|
Not more than 50 % of the initial design dielectric breakdown voltage
|
๊ทธ๋ฆผ. 3. ๊ต๋ฅ ์ ์ฐํ๊ดด์ํ ์ ์ฐจ
Fig. 3. Procedure for AC dielectric breakdown test
์๋ช
๊ทธ๋ฃน๋ณ 6๊ฐ์ ์๋ฃ์ ์ ์ฐ์ ์์ธก์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ ํ 2์ ๊ฐ์ผ๋ฉฐ, ์๋ช
๊ทธ๋ฃน #3์ ์๋ฃ 3๋ฒ์ ๊ฒฝ์ฐ ์ ์ ์ ์ ๋ถ๋์ผ๋ก 1.7 kV์์ ์ ์ฐ์ด ํ๊ดด๋์ด ์ต์ข
์ธก์ ๋ฐ์ดํฐ์์ ์ ์ธํ์๋ค.
ํ 2. ์๋ช
๊ทธ๋ฃน๋ณ ์ ์ฐํ๊ดด์ ์ ์ธก์ ๊ฒฐ๊ณผ
Table 2. Results of AC dielectric breakdown voltage test by aging group
Sample
|
Breakdown voltage (kV)
|
Aging #1
|
Aging #2
|
Aging #3
|
1
|
28.4
|
28.2
|
30.8
|
2
|
30.8
|
29.2
|
28.2
|
3
|
28.6
|
27.6
|
*
|
4
|
30.9
|
27.2
|
25.1
|
5
|
28.1
|
26.6
|
27
|
6
|
28.6
|
26.2
|
24.7
|
Average
|
29.07
|
27.50
|
26.24
|
ํ 2์ ์ธก์ ๋ฐ์ดํฐ๋ฅผ ํ์ฉํ์ฌ ๊ทธ๋ฆผ 4์ ๊ฐ์ด ์๋ช
๊ทธ๋ฃน๋ณ ์ ์ฐํ๊ดด์ ์ ๋ถํฌ๋ก ๋์ํํ์๋ค. ์๋ช
๊ทธ๋ฃน๋ณ ํ๊ท ๊ฐ์ ๋น๊ตํ๋ฉด, ์๋ช
๊ทธ๋ฃน #1์ ํ๊ท ์ 29.63 kV, ์๋ช
๊ทธ๋ฃน #2์ ํ๊ท ์
27.50 kV ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ์๋ช
๊ทธ๋ฃน #3์ ํ๊ท ์ด 25.80 kV๋ก ์ฌ์ฉ๊ธฐ๊ฐ์ด ๊ธธ์๋ก IV์ ์ ์ PVC์ ์ฐ์ฒด์ ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ ์ฑ๋ฅ์ ์ ํ๋จ์ ํ์ธํ์๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 4. IV์ ์ ์ ์๋ช
๊ทธ๋ฃน๋ณ ์ ์ฐํ๊ดด์ ์ ๋ถํฌ
Fig. 4. Distribution plot of dielectric breakdown voltage by aging group of IV wires
3.2 ์ ๋ขฐ์ฑ ๋ถ์
์ํ๋ฐ์ดํฐ๋ฅผ ๊ธฐ๋ฐ์ผ๋ก ์์ฉํต๊ณํด์ํ๋ก๊ทธ๋จ์ธ ๋ฏธ๋ํญ์ ํ์ฉํ์ฌ ์ ๋ขฐ์ฑ ๋ถ์์ ์ํํ์๋ค (15). ๋ฐ์ดํฐ ๋ถํฌ ์์์ ํ์ธํ๊ณ ํ๊ดด์ํ์ ์ ํฉํ ๋์์ ๊ท๋ถํฌ๋ฅผ ์ ์ฉํ์ฌ ๊ทธ๋ฆผ 5์ ๊ฐ์ด ์๋ช
๊ทธ๋ฃน๋ณ๋ก ๋ฐฑ๋ถ์์๋ฅผ % ๋จ์๋ก ๋์ํ ํ์๋ค. ์๋ช
๊ทธ๋ฃน๋ณ๋ก ์ ์ฐํ๊ดด์ ์ ๋ฐ์ดํฐ์ ๋์๋๋ ๋ฐฑ๋ถ์ ์๋ ๊ณ ์ฅ๋ฅ ์ ์๋ฏธํ๋ฉฐ, ์๋ช
๊ทธ๋ฃน #1์
๋นจ๊ฐ์ ๋ค๋ชจ, #2๋ ํ๋์ ์ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ #3๋ ๋
น์ ์ธ๋ชจ๋ก ๋ํ๋ธ๋ค. ๊ฐ ๋ฐ์ดํฐ ๋ถํฌ์์ ๊ฒ์ ์ ์ค์ ์ ๊ธฐ์ค์ ์ ์๋ช
๋ถํฌ ๋ฐฉ์ ์์ ๊ธฐ์ค์ผ๋ก ์ ํํ๋๋๋ฐ,
์ด๋ ๋ฐฑ ๋ถ์์๋ก ํํ๋ ๊ณ ์ฅ ๋ฐ์ดํฐ๊ฐ ๊ธฐ์ค์ ์ ๊ฐ๊น์ธ์๋ก ์๋ช
๋ถ๋ฐฐ์ ์ ํฉํ๋ค๋ ๊ฒ์ ์๋ฏธํ๋ค. ๊ทธ๋ฆผ 5์์ ๋นจ๊ฐ์ ์ ์ ์๋ช
๊ทธ๋ฃน๋ณ๋ก ๊ณ ์ฅ๋ฅ 50 %์ ๋์๋๋ ์ ์ฐํ๊ดด์ ์์ ํ์ํ๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 5. IV์ ์ ์ ์๋ช
๊ทธ๋ฃน๋ณ ์ ์ฐํ๊ดด์ ์ ํ๋ฅ ๋
Fig. 5. Probability plot of dielectric breakdown voltage by aging group of IV wires
IV์ ์ ์ ํ๊ดด์๋ช
์ ๊ทธ๋ฆผ 5์ 3๊ฐ์ ์๋ช
๊ทธ๋ฃน๋ณ ๊ณ ์ฅ๋ฅ 50 %(B50)์์ ์ ์ฐํ๊ดด์ ์์ ์ฌ์ฉํ์ฌ ๊ทธ๋ฆผ 6๊ณผ ๊ฐ์ด ์ ํ์ ํฉ(linear fitting)์ ํตํด ์๋ช
-์ ์ฐํ๊ดด์ ์ ๊ด๊ณ์์ ๋์ถํ์๋ค. ๊ทธ๋ฆผ 6์์ ์๋ช
๊ทธ๋ฃน๋ณ ํ๊ดด์ ์์ ํ๋์ ๋ค๋ชจ๋ก ํ์๋๋ฉฐ, ์ ํฉ์ ์ ๊ฒ์ ์ ์ ์ ์ผ๋ก ์ฌ์ฉ ๊ฒฝ๊ณผ์ ๋ฐ๋ฅธ ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ ์ฑ๋ฅ์ ์ ํ์ ๋ํ ์ถ์ธ๋ฅผ ๋ํ๋ธ๋ค. ๋ง์ฝ
์ด๊ธฐ ์ค๊ณํ๊ดด์ ์์ 50 %๋ฅผ ๊ฐ์ ํ๋ค๋ฉด ์์ ํ๊ฐ์๋ช
์ 132๋
์ผ๋ก ๋นจ๊ฐ์ ์ ์ผ๋ก ํ์๋๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 6. IV์ ์ ์ ์ ์ฐํ๊ดด์ ์๊ณผ ์๋ช
๊ด๊ณ์
Fig. 6. The relationship of dielectric breakdown voltage and expected lifetime of
IV wires
IV์ ์ ์ ์ ์ฐ์ฒด์ ์๋ช
ํ๋จ๊ธฐ์ค๊ณผ ๊ณ ์ฅ๋ฅ ์ ๋ฐ๋ฅธ ํ๊ฐ์๋ช
์ ๊ทธ๋ฆผ 7๊ณผ ๊ฐ๋ค. ๊ณ ์ฅํ๋จ๊ธฐ์ค์ 50%, 60%, 70%, 80%, 90%์ ๋ฒ์๋ฅผ ๊ฐ์ง๋ฉฐ, ๊ณ ์ฅ๋ฅ ์ ์ต์ ํ๊ดด์ค๊ณ์ ์์ ๊ฐ์ ํ 1%์ ์ผ๋ฐ์ ์ผ๋ก ์ ์ฉ๋๋
50%๋ฅผ ๊ฐ์ ํ์๋ค. ๊ทธ๋ฆผ 6์ ๊ด๊ณ์์ ์๊ธฐ ์กฐ๊ฑด๋ณ๋ก ์ฐ์ถํ์ฌ ๊ทธ๋ฆผ 7๊ณผ ๋์ํ ํ์๋ค. ๊ณ ์ฅ ํ๋จ๊ธฐ์ค๊ณผ ๊ณ ์ฅ๋ฅ ์ด ๋์์๋ก ํ๊ฐ์๋ช
์ ์งง์์ง์ ํ์ธํ์๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 7. ๊ณ ์ฅ ํ๋จ๊ธฐ์ค๊ณผ ๊ณ ์ฅ๋ฅ ์ ๋ฐ๋ฅธ ํ๊ดด์๋ช
์ถ์
Fig. 7. Estimation of failure life by failure criteria and failure rate
4. ๊ฒฐ ๋ก
๋ณธ ๋
ผ๋ฌธ์์๋ ์ ์ ๊ตฌ๋ด๋ฐฐ์ ์ค๋น์ ์๋ช
ํ๊ฐ๋ฅผ ์ํด ๋
ธํ ์๊ฑฐํ์ ์ ์ฐํ๊ดด์ํ์ ์ํํ์๋ค. ์ด๋ก๋ถํฐ ์ป์ด์ง ์๋ช
๋ฐ์ดํฐ๋ฅผ ํต๊ณ๋ถ์ํ๋ก๊ทธ๋จ์ ํ์ฉํ์ฌ
๋ฐ์ดํฐ ๋ถํฌ ์ ํฉ์ฑ ๊ฒ์ฆ์ ํตํด ๋์์ ๊ท๋ถํฌ๋ฅผ ์ ์ ํ๊ณ ์ ๋ขฐ์ฑ ๋ถ์์ ์ํํ์๋ค. ๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ ๋ค์๊ณผ ๊ฐ์ ๊ฒฐ๋ก ์ ๋์ถํ์๋ค.
1) ์ ๊ธฐํ์ฌ ์ฌ๊ณ ๋ฐ์๋ฅ ์ด ๋์ ๋
ธํ ์ ์ IV์ ์ ์๊ฑฐํ๊ณผ ์ ํ์ ๋ํด ASTM D 149์ ์ํ๋ฐฉ๋ฒ๊ณผ IEC 60216-1์ ํ๊ฐ๊ธฐ์ค์ ์ ์ฉํ์ฌ
๋จ์๊ฐ๋ฒ ์ํ์ ์ ์ธ๊ฐ๋ฅผ ํตํด ๊ต๋ฅ์ ์ฐํ๊ดด์ํ์ ์ํํ์๋ค. ๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ 0๋
(์ ํ), 19๋
, 34๋
์ ์ธ ๊ฐ์ ์๋ช
๊ทธ๋ฃน๋ณ ์ ์ฐํ๊ดด์ ์ ๋ถํฌ ์์์
ํตํด ์ฌ์ฉ๊ธฐ๊ฐ์ด ๊ธธ์๋ก IV์ ์ ์ PVC ์ ์ฐ์ฒด์ ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ ์ฑ๋ฅ์ ์ ํ๋จ์ ํ์ธํ์๋ค.
2) ์๋ช
๊ทธ๋ฃน๋ณ ์ ์ฐํ๊ดด ์ํ์ ์ ๋ฐ์ดํฐ์ ๋ํ ์๋ช
๋ถํฌ ์ ํฉ์ฑ ๊ฒ์ฆ์ ํตํด ๋์์ ๊ท๋ถํฌ๋ฅผ ์ ํฉํ์ฌ ์ ๋ขฐ์ฑ ๋ถ์์ ์ํํ์๋ค. ๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ IV์ ์ ์
์ ์ฐํ๊ดด์๋ช
์ 3๊ฐ์ ์๋ช
๊ทธ๋ฃน๋ณ ๊ณ ์ฅ๋ฅ 50 %์์์ ์ ์ฐํ๊ดด์ ์์ ๋ํ ์ ํ์ ํฉ ๊ธฐ๋ฒ์ ์ ์ฉํ์ฌ ์๋ช
-์ ์ฐํ๊ดด์ ์์ ๋ํ ์คํ์์ ๋์ถํ์๋ค.
3) IV์ ์ ์ PVC ์ ์ฐ์ฒด์ ๊ณ ์ฅํ๋จ๊ธฐ์ค(50~90 %)์ ๊ณ ์ฅ๋ฅ (1 %, 50 %)์ ๋ฐ๋ฅธ ํ๊ฐ์๋ช
์ ๊ด๊ณ์์ผ๋ก๋ถํฐ ์ฐ์ถํ์๋ค. ๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ ๊ณ ์ฅ
ํ๋จ๊ธฐ์ค๊ณผ ๊ณ ์ฅ๋ฅ ์ด ๋์์๋ก ํ๊ดด์๋ช
์ ์งง์์ง์ ํ์ธํ์๋ค.
๋ณธ ์ฐ๊ตฌ๋ ๋
ธํ IV์ ์ ์ ์๊ฑฐํ์ ๋ํ ์ ๊ธฐ์ ์ฑ๋ฅ ์ ํ ์ ๋์ ๋ฐ๋ฅธ ์๋ช
๊ณผ์ ๊ด๊ณ๋ฅผ ์ ๋ขฐ์ฑ ๋ถ์ ์ด๋ก ์ ํ์ฉํ์ฌ ๊ท๋ช
ํ ๊ฒ์ ์์๊ฐ ์์ผ๋ฉฐ, ํฅํ
์ค์นํ๊ฒฝ, ๋ถํ ํน์ฑ ๋ฑ ๋ค์ํ ์กฐ๊ฑด์ ๋ํ ํ๋ณธ ๋ถ์ ๋ฐ ๊ฐ์์ดํ์ํ์ ํตํ ๋น๊ต ๊ฒ์ฆ์ด ํ์ ์ฐ๊ตฌ๋ก ํ์ํ๋ค.
References
Accessed 20 March 2020, A Statistical Analysis on the Electric Accident, Korea Electrical
Safety Corporation,http://www.esps.or.kr/ reportboard/19/report.pdf, No. 28

V. Babrauskas, 2005, Vechanisms and Modes for Ignition of Low-Voltage PVC Wires,
Cables, and Cords, in Proc. of Fire & Materials Conf., San Francisco, pp. 291-309

Greg C. Stone, Ian Culbert, Edward A. Boulter, Dhirani, 2004, Electrical Insulation
for Rotating Machines: Design, Evaluation, Aging, Testing, and Repair, Wiley IEEE
Press, pp. 44-49

June 1989, Service Life of Insulated Wires and Cables, apanese Electric Wire & Cable
Makers' Association(JCMA), Technical Committee on Insulated Wire, No. 107, pp. 297-304

M Modarres, Mark P Kaminskiy, Vasily Krivtsov, 2016, Reliability Engineering and Risk
Analysis: a Practical Guide,, CRC Press

Hyung-Ju Park, Feb 2019, Lifetime Prediction on PVC Insulation Material for IV and
HIV Insulated Wire, Journal of the Korean Society of Safety, Vol. 34, No. 1, pp. 8-13

Su-Gil Choi, Si-Kuk Kim, March 2019, A Study on the Performance Change of Insulation
Sheath Due to Accelerated De- gradation of IV and HIV Insulated Wire, Korean Institute
of Fire Science & Engineering, Vol. 33, No. 2, pp. 114-123

Youngju Park, Haepyeong Lee, August 2015, Identification on Carbon Oxide and Smoke
Release Change of Aging Wire Cables, Journal of the Korean Society Hazard Mitigation,
Vol. 15, No. 4

September 2006, Guideline For Maintenance and Inspection of High Voltage CV Cable,
apanese Electric Wire & Cable Makers' Association(JCMA), No. 116D

Hermann Bohle, , Transformers; A Treatise on the Theory, Construction, Design, and
Uses of Transformers, Auto Transformers, and Choking Coils

Chul-Ho Lee, July 2011, Evaluation of Insulation Characteristics of Polymer Insulating
Materials, Journal of Electrical World, pp. 35-42

Chong-Min Kim, Myeong-Il Choi, Young-Seok Kim, Sun-Bae Bang, Jung-Youl Seo, Dec 2010,
A Study on the Real Condition and Life Time of the RCD, The Trans. of the Korean Institute
of Electrical Engineers (KIEE), Vol. 59, No. 4, pp. 467-472

Standard Test Method for Dielectric Breakdown Voltage and Dielectric Strength of Solid
Electrical Insulating Materials at Commercial Power Frequencies., ASTM D 149-09

Electrical Isulating Mterials - Thermal endurance properties - Part 1: Ageing procedures
and evaluation of test results, Ed. 6.0., IEC 60216-1:2013

Sun-Guen Seo, Feb 2009, Reliability Aalysis by Mnitab, Ire Tech Inc.

์ ์์๊ฐ
์ ๊ธฐ์ (Ki-Seok Jeong)
He received the B.S., M.S., and Ph.D. degrees in electrical engineering from Kyungpook
National University, Daegu, Korea, in 2008, 2010 and 2014, respectively.
From 2014 to 2016, he performed postdoctoral research at Korea Railroad Research Institute
(KRRI).
He is currently senior researcher in the Electrical Safety Research Institute of Korea
Electrical Safety Corporation (KESCO) since 2016.
E-mail : jksowl@kesco.or.kr
๊น์์ (Young-Seok Kim)
He received the B.S., M.S., and Ph.D. degrees in electrical engineering from Gyeongsang
National University, Jinju, Korea, in 1996, 1999 and 2004, respectively.
From 2001 to 2002, he was visiting fellow at Yamaguchi University, Japan.
He is currently head researcher in the Electrical Safety Research Institute of Korea
Electrical Safety Corporation (KESCO) since 2003.
E-mail : athens9@kesco.or.kr
๊น์ข
๋ฏผ (Chong-Min Kim)
He received the B.S., M.S., degrees in electrical engineering from Jeonbuk National
University, Jeonju, Korea, in 1998, 2001, respectively.
He is currently head researcher in the Electrical Safety Research Institute of Korea
Electrical Safety Corporation (KESCO) since 2001.
E-mail : cmkim@kesco.or.kr
He received the B.S., degree in electrical engineering from Jeonbuk National University,
Jeonju, Korea, in 2016, where he has currently working forward the M.S. degree in
electrical engineering.
He is currently researcher in the Electrical Safety Research Institute of Korea Electrical
Safety Corporation (KESCO) since 2015.
E-mail : dhals1024@kesco.or.kr